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纳米级PtSi/Si(111)膜成形工艺与连续性研究 被引量:4

Technological Study on Formation and Continuity of Nanometre-Level PtSi(111) Film
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摘要 研究了在(111)Si衬底上沉积5nmPt膜经不同工艺成形后其反应产物及膜的连续性.结果表明高温短时间退火(600℃。 Abstract The constitution and continuity of PtSi(111) films formed by evaporating 5nm Platinum film on Si(111) substrates, and then, annealed at different temperatures, are studied.The results show that the technology with a high temperature and short time annealing (600℃、3min) is favorable to form a continuous nanometre-level PtSi film.
机构地区 哈尔滨工业大学
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第6期468-471,共4页 半导体学报(英文版)
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参考文献9

二级参考文献1

  • 1冯洪安,物理学报,1986年,15卷,319页

共引文献1

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引证文献4

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