多次重触发技术的研究 被引量：1

1

作者 李新娥 原彦飞 《华北工学院测试技术学报》 1999年第3期136-140,共5页

多次重触发技术在存储测试系统中的应用,是针对引信运输安全模拟实验的多次磕碰冲击测试以及齿轮轮齿多次啮合过程弯曲应力而提出的.对每次重触发记录的起始地址进行锁存,以便读数时直接找到该次记录的真实起点,无须利用程序调整.该研... 多次重触发技术在存储测试系统中的应用,是针对引信运输安全模拟实验的多次磕碰冲击测试以及齿轮轮齿多次啮合过程弯曲应力而提出的.对每次重触发记录的起始地址进行锁存,以便读数时直接找到该次记录的真实起点,无须利用程序调整.该研究对重触发技术在存储测试系统中的应用具有重要意义. 展开更多

关键词 存储器 重触发 测量系统

原文传递

可擦写存储器及测试编程

2

作者 栗学忠 王忆文 《微处理机》 1997年第2期17-21,28,共6页

目前，在微机系统及计算机应用领域，尚大量使用EPROM器件。严格测试这些器件的逻辑功能和直流、交流参数是十分必要的。文章首先粗略介绍了这类器件的一般工作原理、数据写入及擦除过程，然后，在多年实践的基础上，叙述了对EPROM进行... 目前，在微机系统及计算机应用领域，尚大量使用EPROM器件。严格测试这些器件的逻辑功能和直流、交流参数是十分必要的。文章首先粗略介绍了这类器件的一般工作原理、数据写入及擦除过程，然后，在多年实践的基础上，叙述了对EPROM进行智能编程、快速编程的方法及注意事项。最后，介绍了直流参数及交流参数的测试要点。 展开更多

关键词 EPROM器件 测试程序 可擦写存贮器

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读/写存贮器RAM2114功能测试及使用

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作者 程绍英 《集成电路应用》 1998年第4期5-8,共4页

通过对RAM2114存贮器的功能测试能够正确地使用集成存贮器2114芯片。

关键词 RAM2114 存贮器 读/写存贮器

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瞬态过程分析测试系统 被引量：2

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作者 范华 潭玉山 《电子测量技术》 1997年第3期20-22,共3页

介绍一种基于PC机的瞬态过程分析测试系统,该系统可用于爆炸、光脉冲、振动和材料破坏等各种非周期性随机信号的分析测试;系统采样速度四档可调,最高可达20MHz,其它分别为10MHz,5MHz和2.5MHz,以适用于不同速度的信号。采用数据存储与计... 介绍一种基于PC机的瞬态过程分析测试系统,该系统可用于爆炸、光脉冲、振动和材料破坏等各种非周期性随机信号的分析测试;系统采样速度四档可调,最高可达20MHz,其它分别为10MHz,5MHz和2.5MHz,以适用于不同速度的信号。采用数据存储与计算机复用存储器技术,计算机可马上对所采集的数据进行处理,免去数据传送的过程,用存储器页面管理虚存技术,解决了大数据量存储问题;用交叉存储技术,解决了存储器速度慢的瓶颈问题。 展开更多

关键词 瞬态分析 数据采集 数据存储 存储器

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自适应存储测试的研究与实践 被引量：6

5

作者 熊继军 沈德泉 《测试技术学报》 1998年第2期281-285,共5页

本文较系统地介绍了自适应存储的概念，意义以及实时自适应数据压缩的实现方法。文章详细地叙述了作为自适应采集存储的主控芯片的ＨＴ９６０１的原理，流程图以及研制结果。在本文的最后还介绍了自适应采集存储测试系统的构成与实践结果。

关键词 动态数据压缩 测试系统 自适应存储 数据采集

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信息理论在存储测试系统设计中的应用研究

6

作者 白艳萍 张文栋 《兵工学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1998年第2期113-116,共4页

以测试信息传输为核心，应用信息理论的有关成果研究存储测试系统的信息传输模型、信道容量、抗干扰容限，以及信息传输速率与信号能量之间的关系。

关键词 存储测试系统 信道容量 信息传输速率 信号能量

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击穿电荷(QBD):监测E^2PROM中超薄隧道氧化层的一种方法(英文)

7

作者 赵文彬 肖明 +1 位作者 徐征 张安康 《电子器件》 CAS 1999年第1期22-27,共6页

本文采用恒定电流应力的ＱＢＤ测试来描述超薄隧道氧化层的质量。Ｅ２ＰＲＯＭ失效的内在机理是由于隧道氧化层中的电荷陷阱。并同时绘出了ＱＢＤ的测试方法。测试表明，使用８ｎｍ隧道氧化层，ＱＢＤ＞５Ｃ／ｃｍ２时，可获得高质量的... 本文采用恒定电流应力的ＱＢＤ测试来描述超薄隧道氧化层的质量。Ｅ２ＰＲＯＭ失效的内在机理是由于隧道氧化层中的电荷陷阱。并同时绘出了ＱＢＤ的测试方法。测试表明，使用８ｎｍ隧道氧化层，ＱＢＤ＞５Ｃ／ｃｍ２时，可获得高质量的Ｅ２ＰＲＯＭ电路，擦／写次数可超过１００万次。 展开更多

关键词 存贮器 隧道氧化层 可擦写 E^2PROM QBD测试

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机内自检技术的研究 被引量：1

8

作者 张迎春 晓菁 魏震生 《国外电子测量技术》 1999年第3期9-9,13,共2页

随着存储器容量的增加,要求测试速度也得跟上。本文介绍了机内自检(BIST)技术,它的发展与应用。

关键词 BIST 存储器 可测试性 机内自检

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降低存储器件的测试成本

9

作者 岳彦生 《电子产品世界》 1998年第12期66-67,共2页

对用户来说,日益增长的存储器件的容量、速度和复杂程度是一个好事,但对制造商却是个挑战性的问题。存储器制造业常花大力气降低生产成本,特别是测试成本。

关键词 存储器件 测试 老化 失效率

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松下电器率先推出“UniPhier”系统LSI产品

10

《电子测试（新电子）》 2005年第11期86-86,共1页

根据日本产经新闻报导，松下电器产业股份有限公司自2005年10月开始，陆续在数字家电开始搭载数字家电平台“UniPhier”（Universal Platform for High—quality Image—Enhancing Revolution）。

关键词 松下电器 系统LSI 产品 股份有限公司 数字家电 IMAGE HIGH 日本产 for

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用于存储器自动测试系统的廉价美国国家标准与技术局参考标准

11

作者 尹轩 《微电子测试》 1994年第2期40-43,共4页

不仅示波器及多用表需要校准,自动测试系统也必须跟踪国家标准和技术局的标准进行校准。

关键词 存储器 自动测试 国家标准 参考标准 美国

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系统LSI中存储器的测试方法

12

作者 林 《电子测试》 1998年第6期12-14,共3页

系统LSI的存储器测试技术有直接存储器访问测试、高速直接存储器访问测试及内置自测试,几种方式各有优缺点,最好能加以组合应用。

关键词 系统LSI 存储器 测试 大规模集成电路

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降低存储器件的测试成本

13

作者 毛世鑫 郭世泽 《电子测试》 1998年第7期11-13,共3页

存储器件容量、速度和复杂性的提高,对于用户来说是一件好事情,但对于制造商来说却是一件相当具有挑战性的问题。

关键词 存储器 测试 成本 SDRAM

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快速检测存储器2114芯片的实用电路

14

作者 周继群 蔡莲红 《电子与电脑》 1990年第9期25-27,共3页

关键词 存储器 2114芯片 电路 检测

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IMBMOS存贮器模板测试仪的研制及应用

15

作者 陆士祥 《公安应用技术通讯》 1989年第4期2-6,19,共6页

关键词 存贮器 模板 测试仪 微机

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双端RAM的多路测试

16

作者 李明凯 《电信交换》 1998年第1期34-36,共3页

文中针对双端ＲＡＭ在实际应用中存在的问题，介绍了一种对双端ＲＡＭ进行测试的多路测试方法，实践证明此种方法既简便，又有效。

关键词 双端RAM 多路测试 存储器

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嵌入式存储器的测试

17

《电子测试》 1998年第3期25-27,共3页

为了在最终应用中能满足日益增长的对高速运行的需求,标准的微处理器、专门的微控制器以及定制的专用集成电路纷纷在以处理器为内核的芯片中加入各种专门设计的单元(图1)。存储器常常占据了这些专门单元多达70％的总面积。

关键词 嵌入式 存储器 测试

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存储器测试仪新进展

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《电子产品世界》 1998年第5期30-31,共2页

随着ＤＤＲＳＤＲＡＭ、ＤＲＤＲＡＭ、ＳＬＤＲＡＭ及ＰＢＳＲＡＭ等超高速存储器相继问世，以及测试仪采用ＡＬＰＧ、ＤＤＲ模式等功能以适应高速测试的要求，今后必须采用依测试脚配置资源的结构，并设法解决进一步提高专用集... 随着ＤＤＲＳＤＲＡＭ、ＤＲＤＲＡＭ、ＳＬＤＲＡＭ及ＰＢＳＲＡＭ等超高速存储器相继问世，以及测试仪采用ＡＬＰＧ、ＤＤＲ模式等功能以适应高速测试的要求，今后必须采用依测试脚配置资源的结构，并设法解决进一步提高专用集成电路集成度的问题。超高速存储器Ｌ... 展开更多

关键词 存储器 测试仪 大规模集成电路

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