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用于存储器自动测试系统的廉价美国国家标准与技术局参考标准

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摘要 不仅示波器及多用表需要校准,自动测试系统也必须跟踪国家标准和技术局的标准进行校准。
作者 尹轩
出处 《微电子测试》 1994年第2期40-43,共4页
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