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降低存储器件的测试成本

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摘要对用户来说,日益增长的存储器件的容量、速度和复杂程度是一个好事,但对制造商却是个挑战性的问题。存储器制造业常花大力气降低生产成本,特别是测试成本。

作者岳彦生

出处《电子产品世界》 1998年第12期66-67,共2页 Electronic Engineering & Product World

关键词存储器件测试老化失效率

分类号 TP333.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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电子产品世界

1998年第12期

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