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降低存储器件的测试成本

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摘要存储器件容量、速度和复杂性的提高,对于用户来说是一件好事情,但对于制造商来说却是一件相当具有挑战性的问题。

作者毛世鑫郭世泽

出处《电子测试》 1998年第7期11-13,共3页 Electronic Test

关键词存储器测试成本 SDRAM

分类号 TP333.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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电子测试

1998年第7期

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