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椭圆偏振技术对电分析化学中氧化还原反应的研究 被引量:9

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摘要 椭圆法利用椭圆偏振光在固体表面薄膜上反射后偏振状态的改变以测定膜厚和光学常数,早已用于半导体物理、腐蚀与表面学科以及电化学等领域。应用这一技术的困难是需要提出代表真实体系的模型。作者等针对这一困难。
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第9期800-803,共4页 Chinese Science Bulletin
基金 中国科学院长春应用化学研究所电分析开放实验室资助课题
  • 相关文献

参考文献10

  • 1谢上芬,Electrochem Soc Extended Abstr,1990年,2期,728页
  • 2Shao F,Electrochom Soc Ectended Abstr,1990年,1期,584页
  • 3黄宗卿,张胜涛.椭圆偏振光谱分析方法对铁表面阳极氧化过程的研究[J].科学通报,1990,35(6):429-431. 被引量:8
  • 4黄宗卿,重庆大学学报,1990年,5期,91页
  • 5黄宗卿,Electrochem Soc Extended Abstr,1989年,1期,619页
  • 6黄宗卿,重庆大学学报,1988年,8期,1页
  • 7黄宗卿,重庆大学学报,1988年,8期,46页
  • 8涂云霞,重庆大学学报,1988年,8期,8页
  • 9岳蓉,重庆大学学报,1988年,8期,27页
  • 10黄宗卿,重庆大学学报,1987年,1期,129页

二级参考文献4

  • 1黄宗卿,重庆大学学报,1988年,8期,1页
  • 2黄宗卿,重庆大学学报,1987年,1期,129页
  • 3黄宗卿,重庆大学学报,1986年,4期,109页
  • 4黄宗卿,重庆大学学报,1980年,1期,72页

共引文献7

同被引文献793

引证文献9

二级引证文献30

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