期刊文献+

用表面光伏方法研究半绝缘GaAs的禁带宽度 被引量:2

The energy gap E_gΓ of semi-insulating Ga As studied by the SPV method
原文传递
导出
摘要 根据所建立的半绝缘 (SI)GaAs的禁带宽度EgΓ 公式 ,利用表面光伏 (SPV)方法的测量结果 ,计算了室温下 5种样品的EgΓ 值 ,并对其中之一进行了 2 1- 30 0K温度范围的EgΓ 计算 ,确认了SPV方法对研究SI -GaAs禁带宽度的可行性 . According to the gotten formula of the energy gaps(E gΓ ) of the semi-insulating(SI) GaAs, and using the measured result by the surface photovoltage method, the energy gaps of five kinds of sample in 300?K are computed. In addition, the E gΓ  of one of the samples from 21 to 300?K are computed, it is pointed out that the SPV method is a effective one for studying the energy gap of SI-GaAs.
出处 《福州大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 2003年第2期144-146,共3页 Journal of Fuzhou University(Natural Science Edition)
基金 福建省教育厅科研资助项目 (JB0 10 16 )
关键词 表达光伏方法 半绝缘GAAS 禁带宽度 半导体材料 光伏谱 吸收系数 semi-insulating GaAs energy gap surface photovoltage
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献3

  • 1沈凯华,电子学报,1986年,14卷,2期,85页
  • 2沈凯华,固体电子学研究与进展,1985年,5卷,4期,273页
  • 3刘士毅,厦门大学学报,1965年,12卷,51页

共引文献8

同被引文献23

  • 1晏长岭,秦莉,宁永强,张淑敏,王青,赵路民,刘云,王立军,钟景昌.GaInAs/GaAs应变量子阱能带结构的计算[J].激光杂志,2004,25(5):29-31. 被引量:10
  • 2Sturge M D. Phys. Rev[J]. 1962,127:768.
  • 3黄昆 谢希德.半导体物理学[M].北京:科学出版社,1965..
  • 4Fischer D W,et al. Appl. Phys. Lett[J]. 1987, 50: 15.
  • 5Jost W, et al. Semicond. Sci. Technol[J]. 1992,7 :1386.
  • 6林兰英 王占国.[A]..1977年砷化镓及其它族化合物半导体会议论文集[C].上海:上海科学技术文献出版社,1979..
  • 7Wu Ju, Zou Yuan - xi, Mo Pei - gen. Materials Lett[J]. 1986,5:29.
  • 8Moiseev K D,Mikhailova M P,Stoyanov N D,et al.Electroluminescence and photoelectric properties of type Ⅱ broken-gap n-In.Ga.As.Sb./N-GaSb heterostructures[J].J Appl Phys,1999,86(11):6264-6268.
  • 9Refaat T F,Abedin M N,Bhat I B,et al.Sb-based two-color photodetector fabrication and characterization[J].Optical Engineering,2005,44(12):501-504.
  • 10Mattias J,Kimberly D,Henrik N,et al.Characterization of GaSb nanowires grown by MOVPE[J].Journalof Crystal Growth,2008,310 (23):5119-5122.

引证文献2

二级引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部