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ME MS的光学检测方法和仪器 被引量:7

Optic testing methods and instruments for MEMS
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摘要 随着微电子机械系统(MEMS,MicroElectroMechanicalSystem)研究的深入和产业化的需求,其检测在MEMS中的重要性越来越大。光学检测方法以其非接触、快速、高精度等优点得到了大量的应用。分析和介绍了国内外采用光学检测法进行MEMS检测的方法及相关检测仪器在测量中的应用。尤其是Nanosurf测量仪器,它是一种独立的三维非接触测量系统,扫描共焦显微镜是基于白光共焦技术,强大且友好的软件控制使所需获得的数据不仅速度快,而且精度很高,并且提供了多种不同的表面分析方法。 Along with the deep research of MEMS and the need of industrialization, the importance of testing in MEMS research is increasing. Optic testing methods have many merits such as noncontact, quickness, high precision. Applications of optic testing methods for MEMS testing at home and abroad are surveyed and described, and readymade instruments are introduced. 
出处 《光学技术》 CAS CSCD 2003年第2期197-200,共4页 Optical Technique
关键词 MEMS 微机电系统 光学检测方法 光学仪器 MEMS optic testing methods optic instrument
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二级参考文献2

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