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X射线平晶谱仪色散曲线和波长的确定 被引量：6

Dispersion curve and wavelength determination in flat-crystal X-ray spectrograph
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摘要 本文给出了X射线平晶谱仪色散曲线几种解析表达式,它们形式不同,但完全等价。提出了几种独立测定激光等离子体X射线波长的方法,这些方法无需任何参考谱线或谱仪参数。 Four analytical expressions, different in form but equivalent to each other, of flat-crystal X-ray spectrograph are presented. Several methods of wavelength determination without reference wavelengths are proposed.
作者 范品忠 张正泉
机构地区 中国科学院上海光机所
出处 《中国激光》 EI CAS CSCD 北大核心 1991年第2期88-93,共6页 Chinese Journal of Lasers
关键词 X射线 光谱仪 色散 波长 晶谱仪 X-ray spectroseopy, laser-produced plasma, flat-crystal X-ray spectrograph
分类号 TH744.1 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献

参考文献1

  • 1Zhang Chengchuan，Physica Scripta，1987年，35卷，798页

同被引文献28

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引证文献6

二级引证文献18

中国激光
1991年 第2期

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