摘要
提出一种简便的新方法用以实现X射线平晶谱仪谱线波长的直接标定 ,只需在谱仪晶体表面加上一个特制的辅助光阑 ,即可在不知光源位置和没有任何参考谱线的情况下精确标定谱线的波长。
A novel method of measuring absolute X-ray wavelengths using an auxiliary diaphragm attached to the planar crystal is proposed, which can accurately determine wavelengths without any reference line and any information or special position.
出处
《中国激光》
EI
CAS
CSCD
北大核心
2003年第2期167-170,共4页
Chinese Journal of Lasers
