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溅射法制备InSb薄膜工艺探索——In与Sb的原子比问题 被引量:4

The Technological Probe of InSb Film by RF Sputtering -The Problem About Atomic Ratio of In to Sb
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摘要 介绍一种基于原子比为 1:1的InSb靶制备原子比为 1:1的InSb薄膜的方法 ,实验结果表明 。 This paper introduces a method of fabricating InSb thin film by RF sputtering in which the ratio of In to Sb is 1:1. A 1:1(the ratio of In to Sb) InSb target was used. The test results are analyzed. The experimental results indicate that in the sputtering fabrication process of the analogous compounds this method is good to the departure between the film's ingredients and target.
出处 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2001年第7期35-36,共2页 Instrument Technique and Sensor
关键词 溅射 INSB薄膜 原子比 磁敏元件 磁敏传感器 RF Sputtering InSb Film,Atomic Ratio,Technique
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