摘要
从半导体器件物理出发,分析了晶体硅太阳电池逆电流产生的原因,研究了逆电流对晶体硅太阳电池性能的影响;通过遮挡实验研究了晶体硅太阳电池逆电流对组件可靠性的影响,探讨了逆电流和热斑保护间的关系,首次提出了逆电流的控制标准。
Analyze the source of reverse current of crystalline silicon solar cells from physics of semiconductor devices,the effect of reverse current on solar cells is investigated.The relationship between reverse current and hot spot is discussed by shaded experiments.The criterion of reverse current is put forward for the first time.
出处
《电子工艺技术》
2012年第1期7-9,17,共4页
Electronics Process Technology
基金
中央高校基金项目
西安市科技局基金项目(项目编号:CXY 1123)
关键词
逆电流
热斑
标准
Reverse current
Hot spot
Criterion
