摘要
与钽及其氧化物不同,对氟钽酸钾,迄今为止,很少有光谱分析的报道。八十年代初,我们曾提出一个以氧化镓为载体的方法,配合生产六年来,分析速度快,结果稳定。但分析硅波动火,仍用化学法解决。本文采用硫-氧化铝载体,直接光谱测定氟钽酸钾中铌、铁、硅等十种杂质,不仅载体材料便宜,而且可以取代化学法分析硅。检测下限0.003-0.0003%,变异系数10.1-17.8%,加料回收率在80-120%之间。一、分析条件试验文献[1]试验中发现,氧化物型载体有利于抑制试样中大量氟化物挥发所产生的烟雾,降低背景,提高铌等杂质谱线的黑度。加入少量硫、硼酸等有利于增强钼、钨等谱线强度。本试验以Al_2O_3、CaCO_3、SiO_2、MgO与少量WO_3、MoO_3、S、H_3BO_3配比。
出处
《分析试验室》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第1期67-67,共1页
Chinese Journal of Analysis Laboratory
