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串联系统的可靠性下限评估方法研究 被引量:6
1
作者 刘军 王士俊 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 1998年第4期68-74,共7页
本文针对小子样可靠性统计试验的特点,指出经典可靠性点估计和极大似然区间估计的不足。然后着重介绍了Buehler精确置信下限评定方法以及MML方法、Lindstrom-Mad-den方法、熵方法、似然比方法、贝叶斯方法... 本文针对小子样可靠性统计试验的特点,指出经典可靠性点估计和极大似然区间估计的不足。然后着重介绍了Buehler精确置信下限评定方法以及MML方法、Lindstrom-Mad-den方法、熵方法、似然比方法、贝叶斯方法等常用的可靠性评定方法及其特点。最后以具体数字实例将文中介绍的近似方法与精确评定方法进行比较,得出较好的适合于小子样无失效情况的核武器可靠性评估方法。本文“挑选”出来的可靠性评定方法还需作更进一步的研究。 展开更多
关键词 可靠性评价 置信界限 成败型 串联系统
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几种常用的成败型系统可靠性综合方法之比较 被引量:8
2
作者 叶豪杰 熊乾坤 王栋 《兵器装备工程学报》 CAS 2017年第1期154-157,共4页
针对成败型复杂系统进行可靠性评估时综合方法易混淆使用造成评估结果错误的问题,提出了确定几种常用综合方法适用条件和范围的分析方法;首先通过对不同综合方法进行理论对比分析,再结合选取典型算例对分析结果进行验证;结果表明:该方... 针对成败型复杂系统进行可靠性评估时综合方法易混淆使用造成评估结果错误的问题,提出了确定几种常用综合方法适用条件和范围的分析方法;首先通过对不同综合方法进行理论对比分析,再结合选取典型算例对分析结果进行验证;结果表明:该方法不仅有效地确定了几种常用的成败型串联综合评估方法的使用条件,而且确定了每种方法的优劣,为工程人员参考提供了应用。 展开更多
关键词 成败型系统 可靠性评估 零失效
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具有多层试验数据的成败型元件之串并联系统及并串联系统可靠性置信下限的近似解 被引量:4
3
作者 范大茵 《宇航学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1990年第2期21-28,共8页
设系统A由K个独立的子系统B_1,B_2,…,B_K并(串)联而成,设第i个子系统B_i又由m_i个相互独立的成败型元件C_(i1),C_(i2),…C_(imi)串(并)联而成,设有多层试验数据: 元件C_(ij)试验N_(ij)次,成功S_(ij)次,失败F_(ij)次(i=1,2,…,K,j=1,2,... 设系统A由K个独立的子系统B_1,B_2,…,B_K并(串)联而成,设第i个子系统B_i又由m_i个相互独立的成败型元件C_(i1),C_(i2),…C_(imi)串(并)联而成,设有多层试验数据: 元件C_(ij)试验N_(ij)次,成功S_(ij)次,失败F_(ij)次(i=1,2,…,K,j=1,2,…,m_i) 子系统B_i有成败型试验数据:试验N_i次,成功S_i次,失败F_i次(i=1,2,…,K) 系统A有成败型试验数据:试验N次,成功S次,失败F次。 本文给出利用此多层成败型试验数据,求系统A的可靠性置信下限的近似解的方法,本文利用一、二阶矩拟合的原则将上述数据折合为原系统A的伪成败型数据:伪试验数N~*,伪成功数S~*,然后从N~*,S~*出发利用单个成败型元件之可靠性的经典精确方法求出原系统A的可靠性置信下限的近似值。本文推导了伪试验数N~*,伪成功数S~*的计算公式,并给出了计算实例。 展开更多
关键词 成败型元件 置信下限 可靠性
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成败型元件串并联系统及并串联系统可靠性置信下限近似解的讨论 被引量:4
4
作者 范大茵 《高校应用数学学报(A辑)》 CSCD 北大核心 1989年第3期451-457,共7页
本文讨论由相互独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性置信下限的近似解。本文利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下将其折合为原系统的伪试验数及伪成功数,然后利用单个成败型元件的可靠性的经典精确置信... 本文讨论由相互独立的成败型元件组成的串并联系统及并串联系统可靠性置信下限的近似解。本文利用系统诸元件的试验数据,在一、二阶矩拟合的原则下将其折合为原系统的伪试验数及伪成功数,然后利用单个成败型元件的可靠性的经典精确置信下限作为原系统可靠性置信下限的近似值。本文推导了伪试验数N及伪成功数S的计算公式,并给出了计算实例。 展开更多
关键词 成败型元件 串并联系统 可靠性
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考虑检测正确率时成败型元件串联系统可靠性置信下限
5
作者 范大茵 《浙江大学学报(自然科学版)》 CSCD 1990年第5期758-767,共10页
设有K个成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性P_i,P_i未知,设对第i个元件试验了N_i次,每次试验是否成功要通过检测才可确定,设检测的正确率为r_i(r_i已知,r_i>1/2),设第i个元件在N_i次试验中经检测被判为成功的次数是S_i(i=1... 设有K个成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性P_i,P_i未知,设对第i个元件试验了N_i次,每次试验是否成功要通过检测才可确定,设检测的正确率为r_i(r_i已知,r_i>1/2),设第i个元件在N_i次试验中经检测被判为成功的次数是S_i(i=1,2,…,K)。本文讨论由诸元件的被判成功数组(S_1,S_2,…,S_K),利用改进的Wintorbottom排序方法计算系统可靠性的经典精确置信下限的方法以及综合诸元件的试验数据,按一、二阶矩拟合的原则将其折合为系统的成败型数据,计算系统可靠性置信下限的近似方法,文中推导了为试验数及伪成功数的计算公式,并给出了具体的计算例子。 展开更多
关键词 成败型元件 系统可靠性 置信限
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检测正确率已知成败型元件并联系统可靠性Bootstrap置信限
6
作者 范大茵 《浙江大学学报(自然科学版)》 CSCD 1992年第3期334-340,共7页
设有成败型元件A_i(i=1,2,…,K)组成的并联系统M,设第i个元件可靠性P_i,P_i未知(i=1,2,…,K)。系统可靠性R=1-sum from i=1 to K (1-P_i)亦未知。 设对第i个元件进行了n_i次独立试验,但对其每次试验结果是成功还是失败要先通过某检测仪... 设有成败型元件A_i(i=1,2,…,K)组成的并联系统M,设第i个元件可靠性P_i,P_i未知(i=1,2,…,K)。系统可靠性R=1-sum from i=1 to K (1-P_i)亦未知。 设对第i个元件进行了n_i次独立试验,但对其每次试验结果是成功还是失败要先通过某检测仪器检测判断,设检测正确率为r_i,r_i为已知,且设ri>1/2。设对第i个元件,试验R_i次,试验结果经检测被判为成功的次数是s_i(真正的成功数并不知道)(i=1,2,…,K),本文讨论基于诸元件的数组(n_i,s_i,r_i)(i=1,2,…,K),求原并联系统M的可靠性R=1-sum from i=1 to K(1-P_i)的Bootstrap置信下限的问题。 展开更多
关键词 成败型 元件 并联系统 可靠性
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基于巴斯卡数据成败型元件串联系统可靠性经典精确置信限
7
作者 范大茵 《经济数学》 1996年第2期109-112,共4页
设A为由K个相互独立的成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性pi,pi未知,i=1,2,…,K.设对第i个元件,对于给定的mi,有ni个巴斯卡试验数据:Xi1,Xi2,…,Xini,其中Xij表示对第i个元件进... 设A为由K个相互独立的成败型元件组成的串联系统,第i个元件的可靠性pi,pi未知,i=1,2,…,K.设对第i个元件,对于给定的mi,有ni个巴斯卡试验数据:Xi1,Xi2,…,Xini,其中Xij表示对第i个元件进行试验,试验进行到mi次成功时所需要的试验次数j=1,2,…,ni,i=1,2,…,K.记Ti=Xi1+Xi2+…+Xini,i=1,2,…,k.本文研究基于统计量(T1,T2,…,Tk)求串联系统A的可靠性经典精确最优置信下限. 展开更多
关键词 成败型元件 串联系统 可靠性 经典精确最优置信限
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Bayesian method for system reliability assessment of overlapping pass/fail data 被引量:4
8
作者 Zhipeng Hao Shengkui Zeng Jianbin Guo 《Journal of Systems Engineering and Electronics》 SCIE EI CSCD 2015年第1期208-214,共7页
For high reliability and long life systems, system pass/fail data are often rare. Integrating lower-level data, such as data drawn from the subsystem or component pass/fail testing,the Bayesian analysis can improve th... For high reliability and long life systems, system pass/fail data are often rare. Integrating lower-level data, such as data drawn from the subsystem or component pass/fail testing,the Bayesian analysis can improve the precision of the system reliability assessment. If the multi-level pass/fail data are overlapping,one challenging problem for the Bayesian analysis is to develop a likelihood function. Since the computation burden of the existing methods makes them infeasible for multi-component systems, this paper proposes an improved Bayesian approach for the system reliability assessment in light of overlapping data. This approach includes three steps: fristly searching for feasible paths based on the binary decision diagram, then screening feasible points based on space partition and constraint decomposition, and finally simplifying the likelihood function. An example of a satellite rolling control system demonstrates the feasibility and the efficiency of the proposed approach. 展开更多
关键词 system reliability assessment Bayesian analysis limited samples overlapping pass/fail data
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计算网络系统可靠度下限的二种M—C方法及结果分析
9
作者 熊志昂 张全虎 聂金华 《系统工程与电子技术》 EI CSCD 1993年第3期78-80,共3页
本文研究系统可靠性结构为网络型,已知分系统的可靠性估计值,然后转化为折合的成败型数据。用二种蒙特卡罗(M—C)方法对网络系统进行可靠性综合,最后对计算结果进行分析。
关键词 网络结构 可靠性 计算机网络
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有相依关系的成败型元件串联系统可靠性经典精确最优置信下限 被引量:1
10
作者 范大茵 《应用数学学报》 CSCD 北大核心 1995年第4期601-607,共7页
设有由K个成败型元件A1,A2,…,Ak组成的串联系统,设A1,A2,…,Ak之间有相依关系,要A1成功的条件下A2才可以试验,在A1,A2,都成功的条件下A3才可以试验,…在A1,A2…,Ak-1都成功的条件下Ak... 设有由K个成败型元件A1,A2,…,Ak组成的串联系统,设A1,A2,…,Ak之间有相依关系,要A1成功的条件下A2才可以试验,在A1,A2,都成功的条件下A3才可以试验,…在A1,A2…,Ak-1都成功的条件下Ak才可以试验,设条件概率P(Ai|A1A2…Ai-1)=pi,pi未知,i=1,2…,K。设有样本(X1,X2,…。Xk)本文用样本点排序法求此串联系统可靠性之经典精确置信下限,并证明了此置信限之最优性。 展开更多
关键词 成败型元件 串联系统 可靠性 置信限 置信下限
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