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碘化铅含量对反式钙钛矿太阳能电池性能的影响 被引量:1
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作者 黄少彪 吴炯桦 《光电子技术》 2025年第1期45-51,共7页
制备了基于不同碘化铅浓度的反式钙钛矿太阳能电池,并用SEM、XRD、紫外‑可见吸收谱、空间电荷限制电流曲线、瞬态光电压谱进行了表征。研究发现,碘化铅浓度对电池性能有很大影响,即随着碘化铅浓度的增加,短路电流略有降低,而开路电压和... 制备了基于不同碘化铅浓度的反式钙钛矿太阳能电池,并用SEM、XRD、紫外‑可见吸收谱、空间电荷限制电流曲线、瞬态光电压谱进行了表征。研究发现,碘化铅浓度对电池性能有很大影响,即随着碘化铅浓度的增加,短路电流略有降低,而开路电压和填充因子上升较大。同时,较高的PbI2浓度可有效减弱迟滞现象。通过结合光学表征与电学表征,进一步发现过量的PbI2可以在钙钛矿晶界处钝化缺陷,降低薄膜缺陷密度,从而提高器件的开路电压和填充因子。最终,在优化的摩尔量下,采用ITO/MeO‑2PACz/PVSK/PC_(61)BM/BCP/Ag的反式结构,制备的钙钛矿太阳能电池表现出卓越的功率转换效率(PCE),达到了22.90%。 展开更多
关键词 反式钙钛矿太阳能电池 碘化铅 缺陷钝化
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AFORS-HET软件模拟N型非晶硅/p型晶体硅异质结太阳电池 被引量:12
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作者 任丙彦 王敏花 +6 位作者 刘晓平 李彦林 羊建坤 励旭东 许颖 李海玲 王文静 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2008年第2期125-129,共5页
运用AFORS-HET程序模拟计算了不同本征层厚度、能隙宽度、发射层厚度、能带失配以及不同界面态密度等参数对N型非晶硅/p型晶体硅异质结太阳电池光伏特性的影响。结果表明,在其它参数条件不变的情况下,插入较薄本征层,转换效率增加,但本... 运用AFORS-HET程序模拟计算了不同本征层厚度、能隙宽度、发射层厚度、能带失配以及不同界面态密度等参数对N型非晶硅/p型晶体硅异质结太阳电池光伏特性的影响。结果表明,在其它参数条件不变的情况下,插入较薄本征层,转换效率增加,但本征层厚度继续增加时,短路电流密度减少、效率也随之降低。本征层能隙宽度的变化对短路电流影响很大,随能隙宽度增加,短路电流先增加,但当能隙宽度大于某一特定值时,短路电流开始下降。在不插入本征层的情况下,N型发射层的能带失配对短路电流几乎无影响,而开路电压随导带失配的增大逐渐增大,界面态密度会导致开压迅速下降。 展开更多
关键词 APORS-HET 异质结太阳电池 光伏性能
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球栅阵列(BGA)自动植球机的研制 被引量:5
3
作者 夏链 韩江 +2 位作者 方兴 江擒虎 赵韩 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第2期155-158,164,共5页
研究了一种低成本、高效率的BGA全自动植球机,该植球机通过计算机控制,一次性将所需的锡球拾取、摆放到BGA基板上,并能对植球情况进行图像检测。文中着重介绍了STAR-04Z全自动植球机的总体设计方案,研究了真空吸引法植球技术的原理和BG... 研究了一种低成本、高效率的BGA全自动植球机,该植球机通过计算机控制,一次性将所需的锡球拾取、摆放到BGA基板上,并能对植球情况进行图像检测。文中着重介绍了STAR-04Z全自动植球机的总体设计方案,研究了真空吸引法植球技术的原理和BGA全自动植球机的系统组成,并进行了原理样机的结构设计,提出了一种基于BGA全自动植球机图像检测和精确定位系统的体系结构。 展开更多
关键词 BGA 植球机 真空吸引法 集成电路 精确定位
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MEMS器件气密性封装的低温共晶键合工艺研究 被引量:8
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作者 张东梅 丁桂甫 +2 位作者 汪红 姜政 姚锦元 《传感器与微系统》 CSCD 北大核心 2006年第1期82-84,共3页
介绍了一种采用Pb-Sn共晶合金作为中间层的键合封装技术,通过电镀的方法在芯片与基片上形成Cr/N i/Cu/Pb-Sn多金属层,在温度为190℃、压强为150 Pa的真空中进行键合,键合过程不需使用助焊剂,避免了助焊剂对微器件的污染。试验表明:这种... 介绍了一种采用Pb-Sn共晶合金作为中间层的键合封装技术,通过电镀的方法在芯片与基片上形成Cr/N i/Cu/Pb-Sn多金属层,在温度为190℃、压强为150 Pa的真空中进行键合,键合过程不需使用助焊剂,避免了助焊剂对微器件的污染。试验表明:这种键合工艺具有较好的气密性,键合区合金分布均匀、无缝隙、气泡等脱焊区,键合强度较高,能够满足电子元器件和微机电系统(MEMS)可动部件低温气密性封装的要求。 展开更多
关键词 微机电系统 气密性封装 共晶键合 低温封装
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硅基石墨烯场效应管关键工艺研究 被引量:1
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作者 张凤 方新心 +3 位作者 成霁 唐逢杰 金庆辉 赵建龙 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第B12期344-349,共6页
石墨烯由于其独特的电学特性受到关注,工艺的研究促使石墨烯材料的实际应用。着重于石墨烯场效应管关键工艺(目标衬底的预处理、石墨烯的转移、金属沉积、石墨烯刻蚀与退火)的优化。通过实验发现,衬底上硅醇基的密度以及碳氢化合物分子... 石墨烯由于其独特的电学特性受到关注,工艺的研究促使石墨烯材料的实际应用。着重于石墨烯场效应管关键工艺(目标衬底的预处理、石墨烯的转移、金属沉积、石墨烯刻蚀与退火)的优化。通过实验发现,衬底上硅醇基的密度以及碳氢化合物分子的大小对器件的性能有很大的影响;与热蒸发方式相比,溅射会对石墨烯引入更多的缺陷,降低器件性能;金属上石墨烯的接触电阻率为1.1×104Ω·μm,而金属下石墨烯的电阻率为2.4×105Ω·μm;应用射频和微波等离子体系统对石墨烯进行刻蚀,微波等离子体会造成石墨烯上的光刻胶碳化,使得光刻胶很难用丙酮去除;器件制备完成后,样品需要在(H2/Ar)还原性气氛中退火,以除去吸附在石墨烯表面的杂质,提高器件的性能。 展开更多
关键词 石墨烯 溅射 热蒸发 石墨烯转移 等离子体刻蚀
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p-Si上激光诱导局部沉积铂 被引量:1
6
作者 崔启明 江志裕 +1 位作者 郁祖湛 应质峰 《应用化学》 CAS CSCD 北大核心 1998年第4期104-106,共3页
The partial deposit films on p-silicon wafers were formed from three kinds of plating solution: chloro-platinic acid, potassium tetranitroplatinate and diammine platinium dinitrate under Nd: YAG laser irradiation. The... The partial deposit films on p-silicon wafers were formed from three kinds of plating solution: chloro-platinic acid, potassium tetranitroplatinate and diammine platinium dinitrate under Nd: YAG laser irradiation. The compositions and properties of the depositswere investigated by AES, SEM and XPS techniques. The Pt deposits have ohmic contactwith p-type silicon. 展开更多
关键词 电镀铂 激光诱导 沉积 P-SI 硅基体
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微波法制备石墨烯包覆硅材料及其性能研究 被引量:1
7
作者 王力臻 刘静杰 +1 位作者 方华 高海丽 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2016年第12期12195-12201,共7页
利用XRD、Raman、FT-IR、TEM、循环伏安、恒流充放电、交流阻抗等方法研究了微波法制备的石墨烯包覆硅材料(Si/RGO)的结构、形貌及其电化学性能。XRD、Raman、FT-IR结果表明,微波加热能够将氧化石墨烯还原为石墨化程度较低且无序度增加... 利用XRD、Raman、FT-IR、TEM、循环伏安、恒流充放电、交流阻抗等方法研究了微波法制备的石墨烯包覆硅材料(Si/RGO)的结构、形貌及其电化学性能。XRD、Raman、FT-IR结果表明,微波加热能够将氧化石墨烯还原为石墨化程度较低且无序度增加的石墨烯;TEM显示石墨烯均匀包覆着纳米硅,包覆厚度大约为4nm;充放电结果表明,石墨烯包覆硅材料具有较高的可逆比容量、良好的倍率性能和较好的循环稳定性,在400mA/g电流密度下,首次脱锂比容量为1 747mAh/g,库伦效率为67.4%,经3次循环之后,每一循环电量转换效率均在98%以上,循环100周后,可逆的嵌脱锂比容量仍可达1 175mAh/g。 展开更多
关键词 锂离子电池 石墨烯 石墨烯包覆硅 微波法
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基于层流模型的CVD外延流场仿真 被引量:2
8
作者 陈涛 李明达 李杨 《固体电子学研究与进展》 CSCD 北大核心 2017年第6期438-442,共5页
在化学气相沉积(CVD)过程中运用COMSOL Multiphysics建立硅外延生长的层流模型,研究了不同气流设置条件下反应腔体内的气流状态和流速分布。通过优化流场设置,获得了稳定且均匀的气流分布,同时,分析了气流分布对硅外延片生长速率和厚度... 在化学气相沉积(CVD)过程中运用COMSOL Multiphysics建立硅外延生长的层流模型,研究了不同气流设置条件下反应腔体内的气流状态和流速分布。通过优化流场设置,获得了稳定且均匀的气流分布,同时,分析了气流分布对硅外延片生长速率和厚度均匀性的影响。利用LPE-3061D平板式外延炉进行了工艺验证,在重掺Sb衬底上进行硅外延沉积,在优化流场下制备出的硅外延片厚度标准偏差达到0.38%。 展开更多
关键词 硅外延片 流场 层流 均匀性
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基于温冲环境的Au—Al键合特性研究 被引量:2
9
作者 周继承 严钦云 +1 位作者 杨丹 黄云 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第10期1539-1541,1544,共4页
设计了Au—Al键合点的温度冲击试验,分析了键合点的力学特性、结构形貌及电学性能。结果表明Au—Al键合界面无裂纹产生,且机械性能良好,键合拉力在3.0~12.0g之间;高温导致Au—Al间形成了电阻率较高的化合物Au5Al2;最终引起键合... 设计了Au—Al键合点的温度冲击试验,分析了键合点的力学特性、结构形貌及电学性能。结果表明Au—Al键合界面无裂纹产生,且机械性能良好,键合拉力在3.0~12.0g之间;高温导致Au—Al间形成了电阻率较高的化合物Au5Al2;最终引起键合电失效。对目前工艺水平下的Au—Al键合可靠性进行了评价,发现其寿命分布服从威布尔分布规律。用图估法估算取置信度为95%时,特征寿命η为547h,形状参数m为3.83。基于器件可靠性评价规律预测出了该工艺条件下制备的Au—Al键舍寿命,取可靠度为90%时,试验样品在常温25℃时的寿命为1.8×10^5h,约20年。 展开更多
关键词 Au—Al键合 温度冲击试验 特性 可靠性评价
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微波在半导体退火工艺中的应用 被引量:1
10
作者 康恒 林琳 +3 位作者 符庭钊 李勇滔 夏洋 景玉鹏 《微纳电子技术》 北大核心 2017年第12期835-839,共5页
针对传统快速热处理工艺(RTP)在退火过程中引起杂质再扩散导致难以制作浅结器件的问题,采用了微波退火的方式进行退火,有效降低了热预算,能够解决杂质再扩散的问题。相比传统RTP退火,微波的退火机理具有特殊性,其不仅有微波的热效应还... 针对传统快速热处理工艺(RTP)在退火过程中引起杂质再扩散导致难以制作浅结器件的问题,采用了微波退火的方式进行退火,有效降低了热预算,能够解决杂质再扩散的问题。相比传统RTP退火,微波的退火机理具有特殊性,其不仅有微波的热效应还有微波的非热效应,使微波退火能够在较低的温度下实现杂质激活和晶格修复。实验表明,在注入能量为15 keV、注入剂量为1×1015 cm-2时,P31注入的样品经微波退火后其方块电阻均值小于200Ω/,片内不均匀度小于3%,最高退火温度仅约为400℃,热预算远低于传统RTP退火。该实验结果表明,微波退火的方法在浅结器件的制备工艺中有较大的应用潜力。 展开更多
关键词 微波 退火 离子注入 快速热处理工艺(RTP) 热预算
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用高频C-V特性测量表面势和界面陷阱密度及其分布 被引量:1
11
作者 齐鸣 陈苹 罗晋生 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1990年第2期57-60,64,共5页
本文基于对MOS结构耗尽-弱反型区C-V特性的理论分析,提出了一种利用高频C-V特性直接测量半导体表面势和界面陷阱密度及其按能量分布的简便方法,减少了测量分析的计算量,降低了对样品的要求。本文还给出了一些实验样品的测试结果。
关键词 C-V 测量 半导体 表面势 陷阱密度
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硅片背面铜污染的清洗 被引量:4
12
作者 陈波 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期14-16,87,共4页
H2SO4/H2O2/H2O、HNO3/HF和HF/H2O2/H2O为半导体芯片生产过程中三种去除硅片背面铜污染的化学清洗液。在单片湿法清洗机上采用这三种化学液对直径300 mm具有类似于实际生产中铜污染的硅片进行了清洗,结果发现H2SO4/H2O2/H2O在清洗过程... H2SO4/H2O2/H2O、HNO3/HF和HF/H2O2/H2O为半导体芯片生产过程中三种去除硅片背面铜污染的化学清洗液。在单片湿法清洗机上采用这三种化学液对直径300 mm具有类似于实际生产中铜污染的硅片进行了清洗,结果发现H2SO4/H2O2/H2O在清洗过程中不对硅片表面的Si3N4膜产生损伤,但铜污染的去除效率较低;HNO3/HF和HF/H2O2/H2O对Si3N4膜产生微量刻蚀,从而去除扩散至硅片内部铜污染,从而显示出较佳的去除效果。通过比较HF/H2O2/H2O中HF体积分数与Si3N4膜刻蚀深度和清洗后铜原子浓度,HF的体积分数为1.5%时,可以使硅片表面铜原子浓度降至1010cm-2以下,并且Si3N4膜厚的损失小于1 nm。 展开更多
关键词 铜污染 湿法 单片清洗 硅片背面 刻蚀
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通过控制原子实现纳米图形制作研究 被引量:2
13
作者 罗先刚 姚汉民 +1 位作者 陈旭南 冯伯儒 《微细加工技术》 EI 2000年第1期51-54,共4页
基于激光冷却和捕获原子的原理 ,初步探讨了利用原子进行纳米量级图形制作的基本原理和实验研究。研究结果表明 ,此技术可实现分辨率高达几个纳米大小的超微细图形制作 ,制作效率极高。
关键词 纳米图形 激光准直 激光捕获
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先进电子制造技术的发展 被引量:2
14
作者 龙绪明 王李 +1 位作者 李鹏程 黄昊 《电子工业专用设备》 2009年第5期1-10,共10页
依据先进制造技术的特点,系统论述先进电子制造技术,探讨在现代大制造环境下所涉及的电子设计技术和电子制造技术的等相关理论、方法、技术和最新发展。
关键词 先进制造技术 电子制造 表面组装技术SMT 集成柔性制造 智能制造
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亚微米/深亚微米的栅氧清洗技术 被引量:2
15
作者 徐政 郑若成 何磊 《电子与封装》 2003年第3期36-39,共4页
栅氧前清洗是栅氧工艺的重要部分,本文介绍二种适用于亚微米/深亚微米的清洗工艺: 采用稀释化学试剂和兆声波清洗的VCS清洗工艺和IMEC清洗工艺。
关键词 清洗 兆声 颗粒 ZETA电势
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新型电子工业清洗工艺研究 被引量:1
16
作者 曹宝成 马洪磊 +1 位作者 宗福建 李玉香 《山东电子》 1998年第4期26-27,共2页
本文报告了一种新型电子工业清洗工艺。用该工艺清洗过的硅片上的钠残留量低于常规cmos/sos栅氧化工艺,去重金属离子的能力及对器件参数的影响与常规cmos/sos栅氧化工艺相当。新型清洗工艺具有操作简单,价格低廉等优... 本文报告了一种新型电子工业清洗工艺。用该工艺清洗过的硅片上的钠残留量低于常规cmos/sos栅氧化工艺,去重金属离子的能力及对器件参数的影响与常规cmos/sos栅氧化工艺相当。新型清洗工艺具有操作简单,价格低廉等优点,无毒,无腐蚀性,对人体无危害,对环境无污染。 展开更多
关键词 清洗工艺 半导体 硅片 栅氧化工艺
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复合湿法腐蚀工艺制备硅基三维曲面
17
作者 黎永前 李薇 +1 位作者 郭勇君 苏磊 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第6期1531-1536,共6页
提出了将各向异性湿法腐蚀与各向同性湿法腐蚀相结合的复合工艺,通过控制刻蚀工艺参数进行体硅加工,成功刻蚀了硅基材料三维曲面回转体结构。在各向同性腐蚀过程中,由各向异性刻蚀得到的多面体结构的表面垂直腐蚀速率与刻蚀液浓度呈指... 提出了将各向异性湿法腐蚀与各向同性湿法腐蚀相结合的复合工艺,通过控制刻蚀工艺参数进行体硅加工,成功刻蚀了硅基材料三维曲面回转体结构。在各向同性腐蚀过程中,由各向异性刻蚀得到的多面体结构的表面垂直腐蚀速率与刻蚀液浓度呈指数关系,而搅拌使得多面体结构表面峰值与谷底的刻蚀液存在流速差,基于此原理可得到光滑的三维曲面。刻蚀过程中,通过各向异性湿法腐蚀控制结构深度,通过各向同性湿法腐蚀"抛光"结构曲面。最后,采用实验优化湿法腐蚀过程的工艺参数,基于直径为600~1 000μm的圆形掩模板,在硅材料表面制备得到了高度为100~200μm的三维曲面回转结构。提出的工艺简单、有效且便于操作,有望用于制作不同曲面形状的三维硅结构及聚合物光学器件模具。 展开更多
关键词 体硅加工 湿法腐蚀 各向异性 各向同性 硅模具 三维曲面
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背栅单层石墨烯场效应晶体管的构建及可靠性研究
18
作者 郝威 郭新立 +5 位作者 张艳娟 王蔚妮 张灵敏 王增梅 陈坚 于金 《功能材料》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第1期1022-1026,共5页
采用低压化学气相沉积法(LPCVD)制备了高质量的单层石墨烯薄膜,通过湿法转移将所制备的单层石墨烯无损覆盖到两条平行粘贴在SiO2/Si衬底上的热释放胶带表面,胶带间距约500μm,进而对试样进行加热和切割,获得与SiO2/Si衬底紧密结合的石... 采用低压化学气相沉积法(LPCVD)制备了高质量的单层石墨烯薄膜,通过湿法转移将所制备的单层石墨烯无损覆盖到两条平行粘贴在SiO2/Si衬底上的热释放胶带表面,胶带间距约500μm,进而对试样进行加热和切割,获得与SiO2/Si衬底紧密结合的石墨烯条带(约10 000μm×500μm),最后采用掩膜法在石墨烯条带上蒸镀金电极,构建成背栅石墨烯场效应晶体管。该方法简单易行,电学性能测试结果表明,石墨烯与金电极具有良好的欧姆接触,室温下,石墨烯的空穴迁移率约为735cm2/(V·s),且表现出了石墨烯所特有的双极性特征。背栅石墨烯场效应晶体管转移特性曲线表现出了滞回行为,且随着施加栅压的增大,滞回行为越来越显著,展示出高的性能可靠性。 展开更多
关键词 石墨烯 场效应晶体管 滞回行为
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镍对多弧离子镀制备的铬基金属衬底性能的影响
19
作者 王古平 熊传兵 江风益 《稀有金属》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第4期515-519,共5页
利用多弧离子镀和选择腐蚀相结合的技术在Si(111)衬底上首次制备了具有择优取向的铬基金属衬底,该金属衬底具有与外延级硅衬底一致的表面粗糙度及平整度。采用SEM,EDX,XRD和显微硬度计对铬基金属衬底进行了表征。研究表明:镍铬共镀有利... 利用多弧离子镀和选择腐蚀相结合的技术在Si(111)衬底上首次制备了具有择优取向的铬基金属衬底,该金属衬底具有与外延级硅衬底一致的表面粗糙度及平整度。采用SEM,EDX,XRD和显微硬度计对铬基金属衬底进行了表征。研究表明:镍铬共镀有利于获得(110)择优取向的铬基金属衬底,同时镍铬共镀对表面形貌、显微硬度、平整度均存在一定影响。 展开更多
关键词 多弧离子镀膜 铬基金属衬底 择优取向 表面粗糙度
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磁控溅射SiC薄膜及其电学特性研究
20
作者 周继承 郑旭强 《传感技术学报》 CAS CSCD 北大核心 2006年第05A期1407-1410,共4页
用磁控溅射法(RMS)制备了SiC微晶薄膜,并对其进行了退火处理。用AFM观察了薄膜的表面形貌,测量了薄膜的厚度、方块电阻和电阻-温度曲线.结果表明:薄膜表面平整光滑;退火处理前后薄膜样品的lnR随1/kT的变化曲线均满足表达式,电子激活能... 用磁控溅射法(RMS)制备了SiC微晶薄膜,并对其进行了退火处理。用AFM观察了薄膜的表面形貌,测量了薄膜的厚度、方块电阻和电阻-温度曲线.结果表明:薄膜表面平整光滑;退火处理前后薄膜样品的lnR随1/kT的变化曲线均满足表达式,电子激活能的变化范围为0.0142eV^0.0185eV,且随退火温度的升高而增大;分析确定其导电机理为定域态间近程跳跃电导.退火前后薄膜电阻率的范围为2.4×10-3~4.4×10-3Ω·cm,且随退火温度的升高而增大,与电子激活能的变化趋势一致,这进一步验证了本文提出的薄膜导电机理和激活能随退火温度的变化趋势. 展开更多
关键词 SiC微晶薄膜 表面形貌 电子激活能 电阻率
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