摘要
边界扫描结构完备性测试是在其他任何测试之前建议首先进行的测试操作,以确保边界扫描结构能正常工作。本文在分析了边界扫描结构故障类型与测试原理之后提出了一种完备性诊断策略,并给出了具体实现过程。
The integrity of boundary scan test infrastructure is suggested to test before any other
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2003年第9期22-24,43,共4页
Semiconductor Technology