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光热辐射测量(PTR)技术的理论及应用研究被引量：4

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摘要简要叙述了PTR技术的特点、分频和测量装置。介绍了单层样品的光热辐射信号的振幅和位相公式以及在热物性测量、无损检测和吸收光谱学等方面的应用研究。

作者李佩赞

机构地区苏州大学

出处《红外技术》 CSCD 1989年第3期1-5,共5页 Infrared Technology

关键词测量光热辐射 PTR技术无损检测

分类号 TN215 [电子电信—物理电子学]

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2尹国应,李爱珠.材料亚表面缺陷光热辐射检测的模拟和实验研究[J].光学与光电技术,2020(2):18-26. 被引量：1
3王磊,李佩赞.PTR系统空间分辨率受光斑尺寸影响的理论和实验研究[J].光学学报,1994,14(10):1117-1120. 被引量：2
4李佩赞,王钦华.光热辐射测量位相法检测材料内部缺陷的原理和装置[J].仪器仪表学报,1994,15(3):265-268. 被引量：2
5韩媛媛,张宇民,韩杰才,张剑寒,姚旺,周玉峰.国内外碳化硅反射镜及系统研究进展[J].材料工程,2005,33(6):59-63. 被引量：22
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7李佩赞,王钦华.光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测[J].物理,1996,25(7):426-429. 被引量：1
8李佩赞，Appl Opt，1992年，31卷，19期，3725页
9Qian Lin，Appl Opt，1990年，29卷，28期，4241页
10管国兴，红外研究，1988年，7卷，3期，201页

引证文献4

1李佩赞,王钦华.光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测[J].物理,1996,25(7):426-429. 被引量：1
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3李佩赞,吴志明,郑小明,管国兴.多层样品的PTR理论及其埋层厚度的非接触测量[J].红外研究,1990,9(3):215-220. 被引量：3
4刘远峰,李斌成,赵斌兴,刘红.SiC光学材料亚表面缺陷的光热辐射检测[J].物理学报,2023,72(2):124-132. 被引量：2

二级引证文献6

1李佩赞,王钦华.光热辐射测量位相法检测材料内部缺陷的原理和装置[J].仪器仪表学报,1994,15(3):265-268. 被引量：2
2李佩赞,王钦华.光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测[J].物理,1996,25(7):426-429. 被引量：1
3钱霖,武杰.关于连续调制PTR三维理论模型的一点修正[J].苏州大学学报（自然科学版）,1999,15(4):53-56.
4刘远峰,李斌成,赵斌兴,刘红.SiC光学材料亚表面缺陷的光热辐射检测[J].物理学报,2023,72(2):124-132. 被引量：2
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3钱霖,李佩赞.PTR技术中光热信号的频率特性[J].红外与毫米波学报,1991,10(5):379-384.
4李佩赞,王钦华.光热辐射测量技术应用于材料物性和缺陷的无损检测[J].物理,1996,25(7):426-429. 被引量：1
5王磊,李佩赞.PTR系统空间分辨率受光斑尺寸影响的理论和实验研究[J].光学学报,1994,14(10):1117-1120. 被引量：2
6李佩赞,吴志明,郑小明,管国兴.多层样品的PTR理论及其埋层厚度的非接触测量[J].红外研究,1990,9(3):215-220. 被引量：3
7闫长春,刘诚,杨春艳,薛国刚.光热辐射测量技术的三维和一维理论研究[J].应用激光,2004,24(6):399-401. 被引量：1
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9吴恩启,徐紫红,GUO Xin-xin.光热辐射技术测量钴涂层热学参数及厚度[J].光电子．激光,2015,26(8):1543-1548. 被引量：4
10田裕鹏,王珊珊.脉冲调制光热辐射测量的分层模型与计算[J].南京航空航天大学学报,1998,30(3):336-341.

红外技术

1989年第3期

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