用扫描隧道显微镜(STM)观察纳米粉体的形貌被引量：8

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摘要将不导电的纳米粉体压减薄片．在薄片的表面溅射上金膜，再经过适当的处理，将薄片固定在样品台上，这样制得的样品可用于观察纳米粉体形貌．由于用于ＳＴＭ观察的样品必须导电这一限制，使得样品表面溅射的金膜厚度对成像有很大影响．此类工作可安排在学生近代物理实验的小型科研实验课程中．

作者熊正烨丘翠环张鸿林小平吴弈初

机构地区中山大学物理系广东药学院

出处《物理实验》 2000年第6期3-4,共2页 Physics Experimentation

关键词扫描隧道显微镜纳米材料实验教学

分类号 O48 [理学—固体物理] TN16 [电子电信—物理电子学]

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