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多层簿膜厚度XQMA测定及Monte Carlo计算方法 被引量:1

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摘要 本文提出了应用X射线显微分析实验及Monte Carlo模拟计算电子散射、X射线激发来确定多层薄膜样品每一层厚度的方法.在几种加速电压下,对不同组成、不同厚度的多层膜进行了测定,所得结果与核背散法测定值一致.相对误差小于10%.文中给出了计算程序流程图.
出处 《中国科学(A辑)》 CSCD 1990年第7期757-761,共5页 Science in China(Series A)
基金 国家自然科学基金
  • 相关文献

参考文献3

  • 1何延才,黄月鸿.用蒙特卡罗方法计算电子在固体中透射系数和X光激发深度[J]物理,1982(09).
  • 2程万荣,高巧君,吴自勤.用X射线能谱同时测定薄膜成分及厚度[J]物理学报,1982(01).
  • 3何延才,黄月鸿,孙荆,陈裕三.Monte Carlo模拟计算应用于微区薄膜厚度测定[J]物理学报,1982(01).

同被引文献5

引证文献1

二级引证文献3

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