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多层簿膜厚度XQMA测定及Monte Carlo计算方法
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摘要
本文提出了应用X射线显微分析实验及Monte Carlo模拟计算电子散射、X射线激发来确定多层薄膜样品每一层厚度的方法.在几种加速电压下,对不同组成、不同厚度的多层膜进行了测定,所得结果与核背散法测定值一致.相对误差小于10%.文中给出了计算程序流程图.
作者
何延才
陈家光
王心磊
马业明
机构地区
中国科学院上海硅酸盐研究所
上海宝山钢铁总厂钢铁研究所
出处
《中国科学(A辑)》
CSCD
1990年第7期757-761,共5页
Science in China(Series A)
基金
国家自然科学基金
关键词
多层
薄膜
厚度
XQMA测定
电子散射
分类号
O484.5 [理学—固体物理]
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中国科学(A辑)
1990年 第7期
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