FPGA中的空间辐射效应及加固技术被引量：10

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摘要介绍空间辐射环境对FPGA造成的各种辐射效应及所需要采取的加固措施。不同类型的FPGA中的辐射机理及加固措施有所不同。在基于反熔丝型FPGA中，其辐射效应主要是介质的绝缘击穿，加固措施主要是增加反熔丝厚度，采用三模冗余等技术。在基于SRAM型FPGA中的辐射效应会造成配置失效，加固措施主要是采用监测电路，当配置发生错误时，通过重新配置来恢复系统。

作者李冬梅王志华高文焕张尊侨

机构地区北京清华大学电子工程系

出处《电子技术应用》北大核心 2000年第8期4-6,共3页 Application of Electronic Technique

关键词 FPGA 辐射效应加固集成电路

分类号 TN4 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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参考文献2

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