检定分光光度计用高稳定度窄带干涉滤光片的研制
被引量：1
摘要
介绍了一种新研制的检定分光光度计用的全介质膜窄带干涉滤光片。经用户多年试用和周期检定的结果证明:几项主要技术指标均高出国家计量检定规程的技术指标,且有高的稳定度和使用方便的特点。
出处
《计量与测试技术》
2000年第1期33-34,共2页
Metrology & Measurement Technique
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