摘要
在Ｘ射线荧光分析中，当基体效应严重时，工作曲线变得很复杂，仅用一条曲线来拟合，误差较大。为此， 采用分段的方法， 将工作曲线分成四段， 逐段拟合， 取得了很好的效果。拟合工作曲线时， 所使用的铂钯合金标样， 由Ｘ射线微探针（ＸＲＭＦ） 测试。此外， 我们还用这种方法，
A new regression method was developed for X ray microflurescence analysis of Pt Pd alloys using X ray tube excitation.Working curve is divided into four parts based on concentration of Pt in alloys.For each part,polynomial regression method is used to fit the curve.Results show that this procedure is superior to conventional method of polynomial regression which fitting the whole curve with one equation.Homogeneous level of element distribution in standard alloys is also investigated.
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第6期871-874,共4页
Spectroscopy and Spectral Analysis
基金
国家自然科学基金
