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快离子在C_(60)薄膜中电子能损效应 被引量:1

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摘要 用Raman散射技术分析了 1 71 .2MeVS9+和 1 2 0keV的H+离子在C60 薄膜中电子能损引起的效应 ,即晶态→非晶态转变 .在H+离子辐照的情况下 ,发现电子能损有明显的退火效应 ,致使C60 晶态→非晶态转变过程中 ,经过一个石墨化的中间过程 .而在S9+离子辐照的情况下 ,电子能损的破坏作用超过了退火效应 ,不存在石墨化的中间过程 .
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第20期2150-2153,共4页 Chinese Science Bulletin
基金 国家自然科学基金!(批准号 :189750 4 8 196 750 54) 中国科学院重点基金!(KJ952_S1_4 2 3) 甘肃省自然科学基金资助项目
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