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ICP-AES法测定钼及钼钇合金中硅的质量分数

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摘要文中测定方法用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-AES)法,采用固定寻峰模式,测定了钼及钼钇合金中微量硅元素的质量分数,对被测元素的分析谱线,仪器主要参数,酸度的影响进行了试验,确定了最佳工作条件。

作者张良玉张俊峰郝红梅

机构地区宁夏东方钽业股份有限公司

出处《中国高新技术企业》 2010年第21期44-45,共2页 China Hi-tech Enterprises

关键词 ICP-AES 钼钇合金硅元素测定固定寻峰模式

分类号 TG115.33 [金属学及工艺—物理冶金]

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