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高质量非晶硅锗材料的研制 被引量:3

Investigation and Deposition of High quality a SiGe∶H Film
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摘要 a-SiGe∶H材料的光电性能强烈地依赖于沉积条件,选择适当的氢稀释率、气体压强、掺锗率和辉光功率,获得了光带隙为1.45eV,光暗电导比为1. a SiGe∶H film is intensely depended on the deposition conditions.High quality a SiGe∶H films with the band gap of 1 45eV and the photosensitivity of 10 5 were obtained with fit hygrogen dilution,gas press,doping ratio of Ge and RF power.
出处 《半导体杂志》 1997年第2期12-15,共4页
基金 国家"八五"计划 天津市"21世纪青年科学基金"的资助
关键词 非晶硅锗合金 氢稀释率 气体压强 掺锗率 a SiGe∶H alloy,hygrogen dilution,gas press,RF power
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同被引文献73

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引证文献3

二级引证文献2

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