显微热像测试功率晶体管热性能被引量：9

Study of Thermal Performance of Power Transistor by Micro-Thermo-Video System

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摘要用显微热像仪和晶体管稳态热阻仪测定功率晶体管在开帽状态下的芯片表面温度。从热像图上可以观察到芯片表面存在局部过热地区，即出现热斑，通过比较在电压恒定时和电流恒定时芯片表面温度和晶体管热阻随耗散功率变化的差异，说明热电反馈效应对晶体管芯片温度和晶体管热阻有明显的影响。

作者朱德忠顾毓沁

机构地区清华大学工程力学系

出处《激光与红外》 CAS CSCD 北大核心 1996年第2期134-135,共2页 Laser & Infrared

关键词显微热成像功率晶体率表面温度测试

同被引文献86

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激光与红外

1996年第2期

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