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测试访问门和边界扫描结构—IEEE 1149.1标准

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摘要测试访问门和边界扫描结构—IEEE1149.1标准,定义了置入IC内部的标准测试逻辑结构,以支持IC内部的逻辑测试;IC间相互连接的测试;IC正常运行时的取样测试。文章较全面地介绍该标准,并结合实例加以阐明。

作者黄建文肖铁军

机构地区江苏理工大学计算机系

出处《微电子测试》 1995年第4期13-18,共6页

关键词集成电路 VLSI电路测试访问门边界扫描结构

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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微电子测试

1995年第4期

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