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碳化硅薄膜热敏材料的制备

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摘要 本文介绍了采用硅、碳复合靶射频溅射镀制碳化硅薄膜。用四探针法分别测得了在不同氩气分压下,不同溅射功率与基板温度下,电阻率与温度关系曲线。用 NP-1型光电子能谱仪测量薄膜成分。结果表明在不同的溅射条件下,制备的碳化硅薄膜属于硅、碳、碳化硅混合成分的薄膜,其电阻率相差很大。本工艺制备的碳化硅薄膜,在所测量的0~300℃温区内,具有明显的负温度系数。
出处 《仪表材料》 CSCD 1989年第1期47-50,共4页
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参考文献1

  • 1谭辉,陶明德.Si-C混合非晶膜的退火特性分析[J]仪表材料,1984(05).

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