摘要
本文提出了一种新的缩短随机测试序列长度的方法－ＲＲＴＬ法，它是在找到电路中难测故障（即测试长度最长的故障）分布的基础上，通过对电路的初始输入施加最佳概率的信号，使得最难测故障的测试长度变为极小值，因而也就大大缩短了测试时间。
In this paper, a new approach named RRTL is proposed to red￣ random tot length.After finding worst faults in the circuit, optimum probability signals are applied to the circuit primary inputs so that the sequence length of these worst faults is reduced to the minimum. Thus test time will be shortened also.
出处
《计算机研究与发展》
EI
CSCD
北大核心
1994年第8期51-56,共6页
Journal of Computer Research and Development
