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随机测试中的最优输入信号概率分布被引量：3

OPTIMAL INPUT SIGNAL PROBABILITY DISTRIBUTIONS IN RANDOM TESTING

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摘要 1.问题的提出和一些概念在测试过程中,如果要测图1(a)所示输入端的故障,在这些输入端的信号中希望至少有n-1个“1”信号,而当要测试如图1(b)所示的n-输入“或”门时,则需要至少n-1个“0”信号。有人曾经对一个10-输入“与”门作过一次实验,当各“与”门输入端信号概率为0.

作者向东张钻

机构地区重庆大学计算机研究所

出处《计算机学报》 EI CSCD 北大核心 1991年第3期233-235,共3页 Chinese Journal of Computers

关键词测试概率分布输入信号逻辑电路

分类号 TN791.07 [电子电信—电路与系统]

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相关文献

参考文献1

1张钻，计算机工程，1985年，1期

同被引文献4

1丁瑾，1993年
2丁瑾，Proc of IEEE 2nd Asian Test Symposium，1993年
3闵应骅，微电子测试，1988年，4期，6页
4Chin C K，IEEE Trans C，1987年，36卷，2期，252页

引证文献3

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计算机学报

1991年第3期

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