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谱线不等高对光栅常数测量的影响 被引量:1

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摘要 分光计测光栅常数实验的基本操作之一就是调节谱线等高,即要调节光栅刻痕与转轴平行。本文对谱线不等高对光栅常数测量的影响,给出一定量公式,导出方法物理意义明晰,计算简洁。首先以单缝衍射为例,说明狭缝与线光源不平行时,衍射图样的变化。图1是单缝夫琅和费衍射装置图。
作者 武志华
出处 《物理实验》 1993年第2期92-92,91,共2页 Physics Experimentation
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