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IEEE 1149.1标准与边界扫描技术被引量：19

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摘要本文首先分析了集成电路可测性设计的必要性,接着介绍了边界扫描的基本结构、IEEE1149.1标准及指令寄存器、数据寄存器,分析了边界扫描的工作过程,介绍了基本的扫描寄存器结构,最后给出了系统集成可测性设计的策略。

作者于宗光

机构地区中国电子科技集团公司第

出处《电子与封装》 2003年第5期40-47,共8页 Electronics & Packaging

关键词 IC 可测性边界扫描内建自测试系统集成

分类号 TN43 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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参考文献4

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电子与封装

2003年第5期

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