基于BC3193测试系统的常见分立器件测试方法研究

1

作者 王闯 钱威成 +1 位作者 何胜亮 郭旭东 《电子质量》 2025年第2期64-68,共5页

分立器件广泛地应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子和工业自动化等多个领域。随着全球化电子产业的持续增长,分立器件测试市场呈现出稳步增长的态势,分立器件的测试技术也在不断进步。在分立器件量产测试中,BC3193测试方案应用几... 分立器件广泛地应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子和工业自动化等多个领域。随着全球化电子产业的持续增长,分立器件测试市场呈现出稳步增长的态势,分立器件的测试技术也在不断进步。在分立器件量产测试中,BC3193测试方案应用几乎涵盖了大部分的器件类型,在多种器件的量产测试中得到了验证,是比较成熟的测试方案。对基于BC3193测试系统的常见分立器件的参数测试方法进行了研究。首先,阐述了3种常见分立器件的各参数的测试原理;然后,介绍了BC3193测试系统;最后,基于BC3193测试系统对上述3种常见分立器件的各参数进行了测试,从而验证了该测试方法的有效性。 展开更多

关键词 分立器件 半导体测试系统 量产测试

在线阅读 下载PDF 职称材料

一种大功率半导体芯片热稳态测试系统

2

作者 肖秦梁 乔宇 +1 位作者 张磊 于庆 《电力电子技术》 2024年第10期119-121,124,共4页

大功率半导体行业的发展是电力电子系统升级和产业发展的关键因素。这类半导体器件在应用过程中,因为芯片内部发热而导致结温的上升对其电参数性能的影响显得尤为重要。在此提出了一种在半导体器件生产环节中,模拟大功率半导体芯片在实... 大功率半导体行业的发展是电力电子系统升级和产业发展的关键因素。这类半导体器件在应用过程中,因为芯片内部发热而导致结温的上升对其电参数性能的影响显得尤为重要。在此提出了一种在半导体器件生产环节中,模拟大功率半导体芯片在实际应用中的结温热平衡下的状态,从而进行一系列电参数测试的专用热稳态测试系统。并基于此理论研究的基础上实际做出了系统实体。经过一系列的试验结果论证,该热稳态测试系统是一种大功率半导体芯片进行中间测试的可行的有效筛选解决方案。 展开更多

关键词 半导体芯片 结温 测试系统 温度控制

在线阅读 下载PDF 职称材料

新能源汽车高压系统的典型EMC问题与挑战 被引量：9

3

作者 周宇奎 廖慧敏 +3 位作者 叶广森 梁鹏 舒俊华 和军平 《安全与电磁兼容》 2024年第2期18-31,共14页

高压、高频功率器件已广泛应用于车载功率变换领域,车载高压系统已成为新能源汽车最主要的干扰源。高压系统不断向高集成化快速进步,其电磁传导和辐射路径更加复杂,致使车内外电磁环境日益恶化。文章基于电动汽车产品的正向电磁兼容性(E... 高压、高频功率器件已广泛应用于车载功率变换领域,车载高压系统已成为新能源汽车最主要的干扰源。高压系统不断向高集成化快速进步,其电磁传导和辐射路径更加复杂,致使车内外电磁环境日益恶化。文章基于电动汽车产品的正向电磁兼容性(EMC)研发和测试实践,结合行业最近研究进展和需要,围绕车载高压系统典型干扰源特性、高压系统内电磁耦合及系统间电磁耦合、电磁滤波设计与新型抑制措施等方面,对车载高压系统存在的EMC典型问题及其挑战进行了阐述,也提出开展电驱动系统台架测试与整车测试之间结果关联性探索研究的必要性。 展开更多

关键词 车载高压系统 功率器件 高低压耦合 噪声抑制 台架测试

在线阅读 下载PDF 职称材料

基于ARM的半导体分立器件测试主机系统总线 被引量：1

4

作者 乔爱民 戴敏 史金飞 《自动化与仪表》 2007年第1期74-78,共5页

半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍一种基于ARM微处理器S3C44B0的半导体分立器件测试系统测试主机系统总线的生成方法。在分析了测试系统的组成、S3C44B0的特点及测试主... 半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍一种基于ARM微处理器S3C44B0的半导体分立器件测试系统测试主机系统总线的生成方法。在分析了测试系统的组成、S3C44B0的特点及测试主机系统总线性能要求后,完成了测试主机系统总线的生成。 展开更多

关键词 ARM S3C44B0 测试主机系统总线 半导体分立器件测试系统

在线阅读 下载PDF 职称材料

半导体分立器件测试系统研制 被引量：2

5

作者 乔爱民 王艳春 +1 位作者 戴敏 史金飞 《工业控制计算机》 2008年第2期25-27,共3页

半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X的半导体分立器件测试系统。在分析了测试系统的测试原理和半导体分立器件待测参数后,概括介绍了测试系... 半导体分立器件测试系统是提升半导体分立器件测试和封装企业自动化水平的一种重要的检测设备。介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X的半导体分立器件测试系统。在分析了测试系统的测试原理和半导体分立器件待测参数后,概括介绍了测试系统的软硬件设计。 展开更多

关键词 半导体分立器件测试系统 S3C44BOX 测试回路 工艺参数编辑 测试功能函数

在线阅读 下载PDF 职称材料

基于LabVIEW的半导体器件检测系统设计 被引量：3

6

作者 时丙才 《电子测量技术》 2012年第11期94-96,115,共4页

为实现半导体器件检测过程自动化,减少人为误操作,提高测量的效率,以LabVIEW 9.0为检测系统的开发平台,设计了半导体器件参数自动测试系统。首先介绍了该系统开发需要的软、硬件资源,详细介绍了软件设计流程及功能实现部分,该系统实现... 为实现半导体器件检测过程自动化,减少人为误操作,提高测量的效率,以LabVIEW 9.0为检测系统的开发平台,设计了半导体器件参数自动测试系统。首先介绍了该系统开发需要的软、硬件资源,详细介绍了软件设计流程及功能实现部分,该系统实现了对半导体器件的检测和对仪器的控制功能,并提供了数据存储、图形显示、错误报警等功能。实验结果表明,系统具有良好的人机对话界面,操作方便,且程序拓展性好,为其他同类型器件测量程序的开发缩短了周期。 展开更多

关键词 虚拟仪器 LABVIEW 半导体器件 测试系统

在线阅读 下载PDF 职称材料

半导体测试系统优化

7

作者 朱传敏 冯凯 +1 位作者 何宝华 张燕燕 《佳木斯大学学报（自然科学版）》 CAS 2011年第5期693-695,698,共4页

为了进一步提高半导体测试生产中设备利用率、按期交货率和较低的在制品水平,改进改进半导体测试系统性能,本文提出了不同工件混合生产与设备专用生产相结合的生产模式.并在现有的MODD调度方法基础上,加入了设备切换准备时间的影响.用... 为了进一步提高半导体测试生产中设备利用率、按期交货率和较低的在制品水平,改进改进半导体测试系统性能,本文提出了不同工件混合生产与设备专用生产相结合的生产模式.并在现有的MODD调度方法基础上,加入了设备切换准备时间的影响.用双向选择的方法,进一步改善了调度方法,减少了设备切换次数和切换时间.通过在仿真模型中的试验,验证了优化方法的有效性和可行性. 展开更多

关键词 半导体测试系统 动态调度 生产模式 系统优化

在线阅读 下载PDF 职称材料

半导体吸收式光纤温度检测系统硬件电路 被引量：1

8

作者 李艳萍 郭秀梅 +3 位作者 张丽红 伦翠芬 张小芹 张丽坤 《仪表技术与传感器》 CSCD 北大核心 2010年第11期13-14,17,共3页

利用光纤温度传感器的工作原理,通过对透射光强信号的检测,提出了一种用于电力系统的光电检测法,并重点设计了用半导体吸收式光纤传感器检测电力系统热点温度的硬件电路。根据电力系统的特点及精度要求,阐述和分析了检测系统的原理、组... 利用光纤温度传感器的工作原理,通过对透射光强信号的检测,提出了一种用于电力系统的光电检测法,并重点设计了用半导体吸收式光纤传感器检测电力系统热点温度的硬件电路。根据电力系统的特点及精度要求,阐述和分析了检测系统的原理、组成及性能。理论和实验表明:该系统精度高、抗干扰能力强、测量范围宽、实时性强,精确度和实时性均可满足实际要求。该系统稍加改进对其他强电磁干扰以及易燃易爆场合、狭小空间等特殊工况下的温度检测也有一定的实用性。 展开更多

关键词 电力系统 半导体吸收式 光纤温度检测 硬件电路

在线阅读 下载PDF 职称材料

分布式老炼试验电源监视系统的研制 被引量：1

9

作者 彭浩 李伟 +2 位作者 周晓黎 桂明洋 宋瑛 《半导体技术》 CAS 北大核心 2021年第12期986-991,共6页

针对国内半导体检测机构老炼试验大规模依赖于人工的现状,研制了一种基于TCP/IP网络的分布式半导体器件老炼试验电源监视系统,介绍了系统结构和功能的设计方案,详细说明了具体实现方式和关键技术,包括多类型电源通信兼容性、接口转换与... 针对国内半导体检测机构老炼试验大规模依赖于人工的现状,研制了一种基于TCP/IP网络的分布式半导体器件老炼试验电源监视系统,介绍了系统结构和功能的设计方案,详细说明了具体实现方式和关键技术,包括多类型电源通信兼容性、接口转换与电磁隔离、通信速率优化和属性化任务管理等相关实现方案。该电源监视系统提高了半导体器件老炼试验的信息化水平,在降低成本的同时显著提升了试验质量,通过该系统可以监测器件正常老化、电源功能异常和夹具状态异常等试验过程数据,为设备维护和夹具设计提供了依据。该分布式老炼试验电源监视系统已应用于某半导体检测机构的可靠性试验系统中。 展开更多

关键词 半导体器件 可靠性试验 老炼试验 分布式系统 网络技术 信息化系统

原文传递

激光器综合参数测试实验系统的设计与实现 被引量：1

10

作者 刘海 马翰林 +3 位作者 冷乐蒙 李雷 荆胜羽 张胜 《实验科学与技术》 2016年第4期23-26,共4页

该文设计实现了一种半导体激光器综合参数测试实验系统,该系统通过微处理器控制搭建好的激光器驱动电路与激光器温度控制电路,运用控制变量法,分别采集驱动电流或温度改变后激光器的电压、电流和光功率等数据,通过串口将数据返回到上位... 该文设计实现了一种半导体激光器综合参数测试实验系统,该系统通过微处理器控制搭建好的激光器驱动电路与激光器温度控制电路,运用控制变量法,分别采集驱动电流或温度改变后激光器的电压、电流和光功率等数据,通过串口将数据返回到上位机进行数据处理并绘制对应的曲线图。通过测试,实验系统可完成激光器综合参数的测试,并可用于光电技术综合实验及专业综合实践能力训练。 展开更多

关键词 半导体激光器 参数测试 P-I-V曲线 实验系统

在线阅读 下载PDF 职称材料

半导体激光器老化测试智能控制系统 被引量：6

11

作者 阮颖 王学忠 +3 位作者 郭晶 郭伟玲 崔碧峰 沈光地 《微计算机信息》 北大核心 2005年第08S期30-31,83,共3页

本文介绍了一个能对半导体激光器进行老化测试的智能控制系统。相对于已有系统,该系统采用一个经过MAT-LAB优化设计的半导体激光器驱动电路,电路结构更为简单。控制系统能够同时在恒定电流老化筛选和恒定光功率老化筛选模式下,对多个半... 本文介绍了一个能对半导体激光器进行老化测试的智能控制系统。相对于已有系统,该系统采用一个经过MAT-LAB优化设计的半导体激光器驱动电路,电路结构更为简单。控制系统能够同时在恒定电流老化筛选和恒定光功率老化筛选模式下,对多个半导体激光器进行老化测试。该系统的实验表明,工作稳定,性能良好。 展开更多

关键词 半导体激光器 老化 筛选 驱动电路 智能化测试系统 MATLAB 优化设计

在线阅读 下载PDF 职称材料

基于ARM&CPLD分立器件测试主机总线控制器

12

作者 乔爱民 王艳春 戴敏 《微计算机信息》 2010年第14期108-110,共3页

本文介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X和CPLD的分立器件测试主机系统总线控制器,此控制器用在基于总线架构的半导体分立器件测试系统中。在分析了半导体分立器件测试系统的组成、S3C44B0X的总线特点及测试系统对测试主机系统总线性能... 本文介绍了一种基于ARM微处理器S3C44B0X和CPLD的分立器件测试主机系统总线控制器,此控制器用在基于总线架构的半导体分立器件测试系统中。在分析了半导体分立器件测试系统的组成、S3C44B0X的总线特点及测试系统对测试主机系统总线性能要求后,通过CPLD的内部逻辑设计和相应的总线操作程序,完成了测试主机系统总线控制器的设计。 展开更多

关键词 ARM CPLD 分立器件测试系统 测试主机系统总线控制器

在线阅读 下载PDF 职称材料

封装测试生产线生产过程监视系统研究

13

作者 李敬敏 李晶 姚进 《机械设计与制造》 北大核心 2014年第7期249-251,共3页

为提高某封装测试企业对生产线实时信息的管理能力,分析了生产过程管理现状,建立了生产监视系统的功能模型,采用了B/S模式的系统框架,开发了生产线生产过程监视系统,实现了生产线的动态组建,生产线各种信息的实时监控,以及与其他系统的... 为提高某封装测试企业对生产线实时信息的管理能力,分析了生产过程管理现状,建立了生产监视系统的功能模型,采用了B/S模式的系统框架,开发了生产线生产过程监视系统,实现了生产线的动态组建,生产线各种信息的实时监控,以及与其他系统的有效集成,从而提高管理者对在线信息的分析处理能力和信息反馈速度。该系统已经在某企业试运行,效果良好,有效地提高封装测试厂对生产线实时信息的管理与控制能力,并得到用户的一致好评。 展开更多

关键词 生产管理系统 半导体封装测试 过程监视

在线阅读 下载PDF 职称材料

阻变存储阵列的自动化测试系统 被引量：3

14

作者 董大年 汪毓铎 +3 位作者 吕杭炳 姚志宏 冯雪 余兆安 《半导体技术》 CSCD 北大核心 2017年第12期956-959,共4页

阻变存储器(RRAM)是一种新型的不挥发存储技术,研究阻变存储器阵列规模的存储性能以及可靠性问题是推进RRAM实用化的关键。目前通用的基于微控探针台的半导体参数分析的常规测量系统无法完成对阵列的自动化测试。利用半导体参数分析仪(4... 阻变存储器(RRAM)是一种新型的不挥发存储技术,研究阻变存储器阵列规模的存储性能以及可靠性问题是推进RRAM实用化的关键。目前通用的基于微控探针台的半导体参数分析的常规测量系统无法完成对阵列的自动化测试。利用半导体参数分析仪(4200-SCS)、开关矩阵以及相关外围电路搭建了一套针对阻变存储阵列的自动测试系统,实现了1Mbit RRAM芯片的初始阻态分布的读取、初始化测试、存储单元的自动化编程/擦除操作。测试结果表明,该测试系统可以实现阻变存储阵列的自动化测试,为进一步工艺参数和编程算法的优化设计奠定基础。 展开更多

关键词 阻变存储(RRAM)阵列 半导体参数分析仪 自动测试系统 可靠性 开关矩阵

原文传递

一种便携式VDMOS单粒子试验测试系统

15

作者 魏亚峰 滕丽 +1 位作者 温显超 俞宙 《太赫兹科学与电子信息学报》 2016年第5期816-819,824,共5页

设计了一种在线测试系统,用于监测垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)器件在单粒子试验中的单粒子效应。简述了实验原理,从偏置设计与波形获取及仪器控制与远程监测多个方面详细论述了测试系统的硬件结构;给出了软件的设... 设计了一种在线测试系统,用于监测垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管(VDMOS)器件在单粒子试验中的单粒子效应。简述了实验原理,从偏置设计与波形获取及仪器控制与远程监测多个方面详细论述了测试系统的硬件结构;给出了软件的设计流程及测试系统的操作界面。最后应用该自动测试系统开展了试验,结果表面该系统稳定可靠,便携易用。 展开更多

关键词 垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管 单粒子效应 单粒子烧毁 测试系统

在线阅读 下载PDF 职称材料

基于VA32TA5电荷测量系统的设计和实现 被引量：1

16

作者 任益文 郭建华 汪慎 《空间科学学报》 CAS CSCD 北大核心 2016年第3期395-400,共6页

半导体探测器具有分辨率好、灵敏度高、线性范围宽等优点,是空间X/γ射线探测最常用的探测器.半导体探测系统对电子学系统的噪声水平和测量精度具有较严格的要求.针对半导体探测器对前端电子学的要求,构建了一个基于多通道电荷测量芯片V... 半导体探测器具有分辨率好、灵敏度高、线性范围宽等优点,是空间X/γ射线探测最常用的探测器.半导体探测系统对电子学系统的噪声水平和测量精度具有较严格的要求.针对半导体探测器对前端电子学的要求,构建了一个基于多通道电荷测量芯片VA32TA5的电荷测量系统,详细描述了该系统的设计原理和实现过程,并对其进行了初步测试.测试结果表明,该电荷测量系统具有噪声低和线性好的优点,适用于硅微条、碲锌镉等半导体探测器. 展开更多

关键词 半导体探测器 电荷测量 VA32TA5 系统测试

在线阅读 下载PDF 职称材料

CSM系列半导体测试系统的研究 被引量：3

17

作者 陈光遂 何丕模 +1 位作者 高捷 陈敏麒 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第1期13-20,共8页

CSM系列自动化半导体测试系统是由微型计算机、接口电路单元以及各种模拟测量仪器组合构成的专用测试系统.测量仪器是1MHz电容仪、微电流仪、线性斜坡电压发生器等等.本文重点介绍CSMⅢ型系统.该系统已配备七套应用软件,既可用于集成电... CSM系列自动化半导体测试系统是由微型计算机、接口电路单元以及各种模拟测量仪器组合构成的专用测试系统.测量仪器是1MHz电容仪、微电流仪、线性斜坡电压发生器等等.本文重点介绍CSMⅢ型系统.该系统已配备七套应用软件,既可用于集成电路芯片生产过程中关键工序的在线工艺检测,也可用于半导体器件的研究工作.本系统可以替代进口的类似检测设备. 展开更多

关键词 半导体器件 测试系统 CSM系列

在线阅读 下载PDF 职称材料

分立器件测试系统软件平台的设计及实现 被引量：1

18

作者 罗猛 詹惠琴 古军 《电子测试》 2011年第11期62-66,共5页

为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。并采用层次化、模块化的软件结构设计方法,设计开发了分立器件测试系统的软件平台。该软件平台可以完成系统硬件资... 为解决目前国内分立器件测试系统成本高,可维护性低等特点,开发了一套性价比高、操作简单、自动化程度较高的测试系统。并采用层次化、模块化的软件结构设计方法,设计开发了分立器件测试系统的软件平台。该软件平台可以完成系统硬件资源自检与校准、软件账号管理、流程图测试程序自动转换、测试指标报表生成及打印等一系列功能,并做到测试程序和硬件系统的相互独立,大大提高了开发效率,具有较好的通用性、可维护性和可扩充性。 展开更多

关键词 分立器件测试系统 流程图测试程序 通用性

在线阅读 下载PDF 职称材料

半导体测试分选编带机的简单系统工程分析与评价 被引量：3

19

作者 王晓东 《电子工业专用设备》 2009年第6期24-28,共5页

介绍了半导体测试分选编带机的技术指标要求,并运用系统工程方法建立了简单的系统结构模型,讨论了该设备的每个关键技术及实现方法。在与国外机型综合比较后,得出了可行性分析的结论。

关键词 半导体 测试分选 编带 系统工程 结构模型

在线阅读 下载PDF 职称材料

迭代学习在运动台控制系统中的应用研究 被引量：2

20

作者 朱喜 张文涛 +1 位作者 杜浩 熊显名 《现代电子技术》 2023年第13期97-102,共6页

为了满足晶圆缺陷检测设备运动台对运动轨迹的精确跟踪需求,在重复作业的系统中常采用迭代学习控制,缩短运动台运动的稳定时间,提高半导体检测设备的产率。针对普通的全局PD迭代算法的局限性可能造成系统在特定环节的劣化,实际应用中迭... 为了满足晶圆缺陷检测设备运动台对运动轨迹的精确跟踪需求,在重复作业的系统中常采用迭代学习控制,缩短运动台运动的稳定时间,提高半导体检测设备的产率。针对普通的全局PD迭代算法的局限性可能造成系统在特定环节的劣化,实际应用中迭代时间长、次数多,滤波器型迭代学习应用中被控对象模型难以获得等问题,通过拟合实测传递函数,提出基于模型迭代学习的一种前馈控制算法。给出被控对象建模方法,提出改良后的滤波器型迭代学习控制,有效缩短迭代次数,降低运动台的跟踪误差和运动台稳定时间。实验结果表明,改进滤波器型迭代学习控制算法可以减小原来的轴运动的稳定时间30%左右,轴粗动时位置误差的均方根减小了原来的25%,改善了半导体检测设备运动台的轨迹跟踪性能,可以提高半导体检测设备的产率。 展开更多

关键词 迭代学习 控制系统 被控对象建模 半导体检测 前馈控制 运动轨迹跟踪

在线阅读 下载PDF 职称材料