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基于遗传算法的SOC测试功耗与时间协同优化 被引量:4
1
作者 汪滢 王宏 李辛毅 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第z3期2327-2328,2334,共3页
提出了一种基于遗传算法的SOC功耗与时间协同优化方案。解决了SOC测试中最大瞬时功耗与最小测试时间的矛盾。建立相应的目标函数、约束函数及评估函数,在瞬时功耗不超过规定值的前提下,寻求最短测试时间。方案获得良好的优化效果,实现了... 提出了一种基于遗传算法的SOC功耗与时间协同优化方案。解决了SOC测试中最大瞬时功耗与最小测试时间的矛盾。建立相应的目标函数、约束函数及评估函数,在瞬时功耗不超过规定值的前提下,寻求最短测试时间。方案获得良好的优化效果,实现了SOC测试的可靠与经济。 展开更多
关键词 遗传算法 协同优化 soc测试
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基于TAM分组策略的SoC测试多目标优化设计 被引量:1
2
作者 谈恩民 李清清 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2013年第10期69-72,共4页
在片上系统芯片(System-on-Chip,SoC)测试优化技术的研究中,测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素.在基于测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)分组策略的基础上,以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型,运用多... 在片上系统芯片(System-on-Chip,SoC)测试优化技术的研究中,测试时间和测试功耗是相互影响相互制约的两个因素.在基于测试访问机制(Test Access Mechanism,TAM)分组策略的基础上,以测试时间和测试功耗为目标建立了联合优化模型,运用多目标遗传算法对模型进行求解.以ITC’02标准电路中的p93791电路为实例进行验证,表明此方法能够在测试时间和测试功耗的优化上获得较理想的解,且能提高TAM通道的利用率. 展开更多
关键词 soc测试 测试时间 测试功耗 测试访问机制 多目标遗传算法
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一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法 被引量:2
3
作者 谈恩民 贾亚平 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2017年第1期71-75,共5页
针对现有SoC测试方法所需测试时间过长的问题,提出了一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法.该方法主要是在功耗约束的情况下,通过遗传算法将尽可能多的IP核的测试数据压缩,即IP核的测试数据相同的位接到同一根总线数据位,使每次并行测... 针对现有SoC测试方法所需测试时间过长的问题,提出了一种基于遗传算法的多IP核并行测试方法.该方法主要是在功耗约束的情况下,通过遗传算法将尽可能多的IP核的测试数据压缩,即IP核的测试数据相同的位接到同一根总线数据位,使每次并行测试的IP核数量达到最大.此方法不仅可以减少测试数据集的大小,且能够减少对总线位宽的需求.通过应用遗传算法对所建立测试数据求取最佳测试方案的仿真,证明了该方法是可行的,且能够极大缩短测试时间. 展开更多
关键词 soc测试 遗传算法 IP核 并行测试
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基于遗传算法的测试访问机制最优化 被引量:1
4
作者 夏冰 冯建华 《微电子学与计算机》 CSCD 北大核心 2007年第6期207-210,共4页
讨论了使测试访问机制最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显。实验结果说... 讨论了使测试访问机制最优化的几个问题,然后试着采用遗传算法来解决这些问题,在两个SoC上用遗传算法进行实验,把实验结果与采用整数线性规划方法(Integer Linear Programming,ILP)的结果进行比较可以发现效果改善的很明显。实验结果说明采用遗传算法对测试访问机制进行最优化处理的效果要好于ILP。 展开更多
关键词 测试访问 嵌入式核 系统芯片 测试访问机制 遗传算法
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基于遗传算法的分割可测试设计
5
作者 李宇飞 余宙 付宇卓 《上海交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第11期1774-1777,1782,共5页
基于遗传算法,建立了片上系统芯片(SOC)的图模型,对逻辑级的SOC结构进行精确量化;然后,对模型应用遗传算法进行分析,得到了电路的理想分割结果;最后,基于分割结果,实现一颗SOC的可测试设计(DFT).实验结果表明,在分割的均匀度与附加电路... 基于遗传算法,建立了片上系统芯片(SOC)的图模型,对逻辑级的SOC结构进行精确量化;然后,对模型应用遗传算法进行分析,得到了电路的理想分割结果;最后,基于分割结果,实现一颗SOC的可测试设计(DFT).实验结果表明,在分割的均匀度与附加电路代价方面,该方法相比原有的DFT方法有显著的改进. 展开更多
关键词 片上系统芯片 可测试设计 测试功耗 分割 遗传算法
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