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Study on Si-SiGe Three-Dimensional CMOS Integrated Circuits 被引量:2
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作者 胡辉勇 张鹤鸣 +2 位作者 贾新章 戴显英 宣荣喜 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第5期681-685,共5页
Based on the physical characteristics of SiGe material,a new three-dimensional (3D) CMOS IC structure is proposed,in which the first device layer is made of Si material for nMOS devices and the second device layer i... Based on the physical characteristics of SiGe material,a new three-dimensional (3D) CMOS IC structure is proposed,in which the first device layer is made of Si material for nMOS devices and the second device layer is made of Six Ge1- x material for pMOS. The intrinsic performance of ICs with the new structure is then limited by Si nMOS.The electrical characteristics of a Si-SiGe 3D CMOS device and inverter are all simulated and analyzed by MEDICI. The simulation results indicate that the Si-SiGe 3D CMOS ICs are faster than the Si-Si 3D CMOS ICs. The delay time of the 3D Si-SiGe CMOS inverter is 2-3ps,which is shorter than that of the 3D Si-Si CMOS inverter. 展开更多
关键词 si-sige THREE-DIMENSIONAL CMOS integrated circuits
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太赫兹Si/SiGe量子级联激光器的能带设计 被引量:4
2
作者 林桂江 赖虹凯 +2 位作者 李成 陈松岩 余金中 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第5期916-920,共5页
使用nextnano^3模拟软件计算Si/Si1-xGex/Si量子阱的能带结构,对Si/SiGe量子级联激光器有源区的能带结构进行设计,结果表明使用Ge组分为0.27~0.3,量子阱宽度为3nm的SiGe合金与垒宽为3nm的Si层构成对称应变级联异质结构,有利... 使用nextnano^3模拟软件计算Si/Si1-xGex/Si量子阱的能带结构,对Si/SiGe量子级联激光器有源区的能带结构进行设计,结果表明使用Ge组分为0.27~0.3,量子阱宽度为3nm的SiGe合金与垒宽为3nm的Si层构成对称应变级联异质结构,有利于优化THz Si/SiGe量子级联激光器结构。 展开更多
关键词 SI/SIGE 量子级联激光器 子带阱间跃迁 nextnano^3
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垂直入射Si_(0.7)Ge_(0.3)/Si多量子阱光电探测器 被引量:3
3
作者 李成 杨沁清 +4 位作者 王红杰 罗丽萍 成步文 余金中 王启明 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第5期480-482,共3页
报道了正入射 Si0 .7Ge0 .3/Si多量子阱结构光电探测器的制作和实验结果 .测试了它的光电流谱和量子效率 .探测器的响应波长扩展到了 1 .3μm以上波段 .在 1 .3μm处量子效率为0 .1 % .量子效率峰值在 0 .95μm处达到 2 0 % .
关键词 光电探测器 多量子阱 锗化硅 垂直入射
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光化学气相淀积SiGe/Si材料的机制分析 被引量:5
4
作者 李培咸 孙建诚 胡辉勇 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第3期293-296,共4页
本文对光化学气相淀积 Si Ge/Si过程中气相反应机制和表面反应历程进行了分析和讨论 .利用表面反应动力学的有关理论 ,结合光化学气相淀积的特点 ,推导出光化学气相淀积Si Ge/Si过程中的生长速率和生长压力的关系 .并给出该理论结果和... 本文对光化学气相淀积 Si Ge/Si过程中气相反应机制和表面反应历程进行了分析和讨论 .利用表面反应动力学的有关理论 ,结合光化学气相淀积的特点 ,推导出光化学气相淀积Si Ge/Si过程中的生长速率和生长压力的关系 .并给出该理论结果和实际实验结果的比较 . 展开更多
关键词 SIGE/SI 气相反应 表面反应 光化学气相淀积 生长速率 生长压力 应变层异质结材料
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Si/SiGe-OI应变异质结构的高分辨电子显微分析 被引量:2
5
作者 马通达 屠海令 +2 位作者 邵贝羚 陈长春 黄文韬 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第9期1123-1127,共5页
为了研究失配应变的弛豫机理 ,利用高分辨电子显微镜 (HREM)对超高真空化学气相沉积 (U HVCVD) Si/Si Ge- OI材料横截面的完整形貌和不同层及各层之间界面区的高分辨晶格像进行观察 .发现此多层结构中存在 6 0°位错和堆垛层错 .结... 为了研究失配应变的弛豫机理 ,利用高分辨电子显微镜 (HREM)对超高真空化学气相沉积 (U HVCVD) Si/Si Ge- OI材料横截面的完整形貌和不同层及各层之间界面区的高分辨晶格像进行观察 .发现此多层结构中存在 6 0°位错和堆垛层错 .结合 Matthews和 Blakeslee提出的临界厚度的模型和相关的研究结果对 6 0°位错组态的形成和存在原因进行了分析 .在具有帽层结构的 Si1 - x Gex 应变层靠近基体一侧的界面中仅存在单一位错 ,验证了 展开更多
关键词 Si/SiGe—OI应变异质结构 高分辨显微结构 失配位错 弛豫机理
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三维CMOS集成电路技术研究 被引量:3
6
作者 朱国良 张鹤鸣 +2 位作者 胡辉勇 李发宁 舒斌 《电子科技》 2004年第7期21-26,共6页
论述了三维集成电路(3D IC )的发展概况,介绍了近几年国外发展的各种三维集成电路技术,主要包括再结晶技术、埋层结构技术、选择性外延过生长技术和键合技术。并基于 SiGe 材料特性,提出了一种新型的 Si-SiGe 三维 CMOS 结构,即将第一... 论述了三维集成电路(3D IC )的发展概况,介绍了近几年国外发展的各种三维集成电路技术,主要包括再结晶技术、埋层结构技术、选择性外延过生长技术和键合技术。并基于 SiGe 材料特性,提出了一种新型的 Si-SiGe 三维 CMOS 结构,即将第一层器件(Si nMOS)做在 SOI(Si on insulator)材料上,接着利用 SiO2/SiO2低温直接键合的方法形成第二层器件的有源层,然后做第二层器件(SiGe pMOS),最终形成完整的三维 CMOS结构。与目前所报道的 Si 基三维集成电路相比,该电路特性明显提高。 展开更多
关键词 三维集成电路(3DIC) SI/SIGE CMOS SOI/SiGeOI 低温键合
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电子辐照SiGe HBT和SiBJT的直流特性分析 被引量:7
7
作者 黄文韬 王吉林 +4 位作者 刘志农 陈长春 陈培毅 钱佩信 孟祥提 《核技术》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第3期213-216,共4页
研究了 1 MeV 不同剂量电子辐照前后 SiGe 异质结晶体管(HBT)的直流特性,并与 Si 双极晶体管(BJT)进行了比较。结果表明辐照后 SiGe HBT 的 IB基本不变,IC和β 都下降;随电子辐照剂量的增加,Ic和β 都减小。对 Si BJT 而言,IB和 IC与在... 研究了 1 MeV 不同剂量电子辐照前后 SiGe 异质结晶体管(HBT)的直流特性,并与 Si 双极晶体管(BJT)进行了比较。结果表明辐照后 SiGe HBT 的 IB基本不变,IC和β 都下降;随电子辐照剂量的增加,Ic和β 都减小。对 Si BJT 而言,IB和 IC与在相同辐照剂量辐照后的 SiGe HBT 相比都增大很多,β 下降幅度也很大。这说明 SiGe HBT 具有比 Si BJT 更好的抗辐照性能。对电子辐照后器件电学性能的变化机制进行了初步分析。 展开更多
关键词 电子辐照 SiGe异质结晶体管(HBT) Si双极晶体管(BJT) 电学特性
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GSMBE生长的用于研制HBT的SiGe/Si异质结材料 被引量:1
8
作者 邹德恕 徐晨 +7 位作者 陈建新 史辰 杜金玉 高国 沈光地 黄大定 李建平 林兰英 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第8期1035-1037,共3页
用 GSMBE法生长了 Si/ Si Ge/ Si异质结构材料 .采用双台面结构制造了 Si Ge/ Si NPN异质结晶体管 .在发射结条宽为 4μm,面积为 4μm× 1 8μm的条件下 ,其共发射极直流放大倍数为 75,截止频率为 2 0 GHz.给出了结构设计。
关键词 气态源分子束外延 异质结晶体管 GSMBE生长 HBT 异质结构材料
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Si/SiGe异质结构的硅盖层中应变对Raman谱特征的影响 被引量:3
9
作者 肖清华 屠海令 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2005年第5期719-722,共4页
应变Si/SiGe异质结构通过大剂量Ge离子注入并结合高温快速热退火制备而成。325nm波长的紫外激光被用于调查应变Si盖层的Raman谱特征。实验发现,硅盖层中的张应变导致硅的520cm-1的一级拉曼散射峰向低频方向偏移,峰的偏移程度反映硅盖层... 应变Si/SiGe异质结构通过大剂量Ge离子注入并结合高温快速热退火制备而成。325nm波长的紫外激光被用于调查应变Si盖层的Raman谱特征。实验发现,硅盖层中的张应变导致硅的520cm-1的一级拉曼散射峰向低频方向偏移,峰的偏移程度反映硅盖层中横向张应力的大小约为12.5×108N·m-2。硅盖层中的张应变并未导致1555和2330cm-1的次级拉曼散射峰的变化。 展开更多
关键词 Si SICE 异质结构 应变 RAMAN谱
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具有高电流增益-击穿电压优值的新型应变Si/SiGeHBT 被引量:1
10
作者 金冬月 胡瑞心 +5 位作者 张万荣 高光渤 王肖 付强 赵馨仪 江之韵 《北京工业大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2015年第9期1321-1325,共5页
为了改善器件的高压大电流处理能力,利用SILVACOTCAD建立了应变Si/SiGe HBT模型,分析了虚拟衬底设计对电流增益的影响.虚拟衬底可在保持基区-集电区界面应力不变的情况下实现基区Ge组分的高掺杂,进而增大电流增益.但器件的击穿电压仍然... 为了改善器件的高压大电流处理能力,利用SILVACOTCAD建立了应变Si/SiGe HBT模型,分析了虚拟衬底设计对电流增益的影响.虚拟衬底可在保持基区-集电区界面应力不变的情况下实现基区Ge组分的高掺杂,进而增大电流增益.但器件的击穿电压仍然较低,不利于输出功率的提高和系统信噪比的改善.考虑到集电区设计对电流增益影响不大但与器件击穿电压密切相关,在采用虚拟衬底结构的同时,对器件的集电区进行选择性注入设计.该设计可在集电区引入横向电场,进而提高击穿电压.结果表明:与传统的SiGe HBT相比,新器件的电流增益和击穿电压均得到显著改善,其优值β·V_(CEO)。改善高达14.2倍,有效拓展了微波功率SiGe HBT的高压大电流工作范围. 展开更多
关键词 应变Si/SiGe HBT 选择性注入集电区 击穿电压 电流增益
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多发射极Si/SiGe异质结晶体管 被引量:1
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作者 邹德恕 袁颖 +7 位作者 史辰 徐晨 杜金玉 陈建新 董欣 王东风 高国 沈光地 《北京工业大学学报》 CAS CSCD 北大核心 2003年第2期179-181,共3页
在硅衬底上外延生长一层Si_(1-x)Ge_x合金材料,它的带隙随组分x的增加而变窄,如果用Si_(1-x)Ge_x窄带材料作晶体管基区,利用硅作为集电极和发射极构成双极晶体管,就可以很容易实现器件的高频、高速、大功率。设计了一种以Si/Si_(1-x)Ge_... 在硅衬底上外延生长一层Si_(1-x)Ge_x合金材料,它的带隙随组分x的增加而变窄,如果用Si_(1-x)Ge_x窄带材料作晶体管基区,利用硅作为集电极和发射极构成双极晶体管,就可以很容易实现器件的高频、高速、大功率。设计了一种以Si/Si_(1-x)Ge_x/Si为纵向结构,梳状10指发射区为横向结构的异质结晶体管,利用双台面工艺方法制造出具有如下参数的器件:电流增益β=26、V_(CB)=7V、I_(CM)≥180mA、f_T≤ 2GHz,实现了高频大功率,充分显示出Si/Si_(1-x)Ge_x材料的优越性。 展开更多
关键词 Si/SiGe异质结双极晶体管 梳状结构 双台面工艺 功率晶体管
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硅基波导共振增强型光电探测器的设计与模拟 被引量:5
12
作者 陈荔群 李成 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第8期1476-1479,共4页
SiGe是间接带隙材料,吸收系数非常小,因而SiGe探测器在红外波段的量子效率很低.本文提出一种新型的探测器结构,即波导共振增强型光电探测器,该器件主要由两个介质布拉格反射镜和波导吸收区构成,器件尺寸较传统波导型探测器大为减小,吸... SiGe是间接带隙材料,吸收系数非常小,因而SiGe探测器在红外波段的量子效率很低.本文提出一种新型的探测器结构,即波导共振增强型光电探测器,该器件主要由两个介质布拉格反射镜和波导吸收区构成,器件尺寸较传统波导型探测器大为减小,吸收区的长度不受SiGe临界厚度的限制,实现了量子效率和响应速度的优化.本文在数值模拟的基础上,对器件结构进行了优化设计,结果表明7·6μm长的波导探测器可以得到20%以上的量子效率. 展开更多
关键词 Si/SiGe波导共振增强型 探测器
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新型SiGe/Si异质结开关功率二极管的特性分析及优化设计 被引量:10
13
作者 高勇 陈波涛 杨媛 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第7期735-740,共6页
将SiGe技术应用于功率半导体器件的特性改进 ,提出了新型SiGe/Si异质结p i n开关功率二极管结构 ,在分析器件结构机理的基础上 ,用Medici模拟了该器件的特性并进行了优化设计 .结果表明 ,该功率二极管具有低的正向压降 ,较少的存贮电荷 ... 将SiGe技术应用于功率半导体器件的特性改进 ,提出了新型SiGe/Si异质结p i n开关功率二极管结构 ,在分析器件结构机理的基础上 ,用Medici模拟了该器件的特性并进行了优化设计 .结果表明 ,该功率二极管具有低的正向压降 ,较少的存贮电荷 ,其性能远远超过Si的同类型结构 .这种性能的改进无需采用少子寿命控制技术 ,因而很容易集成于功率IC中 . 展开更多
关键词 开关功率二极管 SIGE/SI异质结 功率损耗 通态压降 存贮电荷
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基区杂质外扩对SiGe/Si HBT低温特性的影响 被引量:2
14
作者 邹德恕 高国 +7 位作者 陈建新 杜金玉 张京燕 沈光地 邓军 赵贞勇 黄绮 周钧铭 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1998年第3期10-13,共4页
SiGe/SiHBT的基区杂质在工艺过程中外扩到发射区和收集区,使得低温增益下降。提出采用适当厚度的隔离层的方法,使HBT电流增益在低温下增长。
关键词 HBT 低温特性 杂质外扩 锗化硅
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柔性衬底非晶硅/非晶硅锗叠层太阳电池 被引量:3
15
作者 刘成 徐正军 杨君坤 《太阳能学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2013年第12期2191-2195,共5页
首先研究沉积温度对p型材料的影响,并应用于非晶硅锗单结太阳电池,发现在140℃下沉积的p层最适合,这与非晶硅太阳电池有较大差别。其次研究3种不同结构隧穿结对叠层太阳电池性能的影响,发现p+-nc-Si/n+-a-Si隧穿结最优。在上述基础上,... 首先研究沉积温度对p型材料的影响,并应用于非晶硅锗单结太阳电池,发现在140℃下沉积的p层最适合,这与非晶硅太阳电池有较大差别。其次研究3种不同结构隧穿结对叠层太阳电池性能的影响,发现p+-nc-Si/n+-a-Si隧穿结最优。在上述基础上,获得效率为11.21%的柔性聚酰亚胺衬底非晶硅/非晶硅锗叠层太阳电池。 展开更多
关键词 柔性衬底 非晶硅 非晶硅锗 叠层太阳电池 隧穿结
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硅中高剂量锗离子注入的快速热退火研究 被引量:3
16
作者 罗益民 陈振华 黄培云 《材料导报》 EI CAS CSCD 2004年第7期101-103,共3页
报道了利用高剂量 Ge^+注入制备 SiGe/Si 异质结的工作。100keV、5.3×10^(16)/cm^2Ge^+注入(001)SIMOX膜中,峰值Ge^+浓度接近20%。样品在不同温度下进行不同时间的快速热退火,X 射线衍射分析和背散射沟道谱研究表明:1000℃退火0.... 报道了利用高剂量 Ge^+注入制备 SiGe/Si 异质结的工作。100keV、5.3×10^(16)/cm^2Ge^+注入(001)SIMOX膜中,峰值Ge^+浓度接近20%。样品在不同温度下进行不同时间的快速热退火,X 射线衍射分析和背散射沟道谱研究表明:1000℃退火0.5h,退火效果较好;退火时间过短或过长,退火温度过高或过低,都将影响退火效果。 展开更多
关键词 锗离子注入 快速热退火 SIGE/SI异质结 半导体材料
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SiGe/Si异质结光电器件 被引量:2
17
作者 刘国军 叶志镇 +3 位作者 吴贵斌 孙伟峰 赵星 赵炳辉 《材料导报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第1期116-119,共4页
SiGe/Si异质结光电器件及其光电集成(OEIC)是硅基光电研究的一个非常引人注目的领域。综述了SiGe/Si异质结材料的基本性质,SiGe/Si异质结光电器件的结构、性能、应用及其光电集成。重点介绍了SiGe/Si光电探测器及其与其他相关器件... SiGe/Si异质结光电器件及其光电集成(OEIC)是硅基光电研究的一个非常引人注目的领域。综述了SiGe/Si异质结材料的基本性质,SiGe/Si异质结光电器件的结构、性能、应用及其光电集成。重点介绍了SiGe/Si光电探测器及其与其他相关器件的集成。 展开更多
关键词 SIGE/SI异质结 光电器件 光电集成
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UHV/CVD外延生长SiGe/Si表面反应动力学 被引量:1
18
作者 于卓 李代宗 +5 位作者 成步文 黄昌俊 雷震霖 余金中 王启明 梁骏吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第6期564-569,共6页
利用 Si H4 和 Ge H4 作为源气体 ,对 UHV/CVD生长 Si1- x Gex/Si外延层的表面反应机理进行了研究 ,通过 TPD、RHEED等实验观察了 Si( 1 0 0 )表面 Si H4 的饱和吸附、热脱附过程 ,得出 Si H4 的分解应该是每个 Si H4 分子的 4个 H原子... 利用 Si H4 和 Ge H4 作为源气体 ,对 UHV/CVD生长 Si1- x Gex/Si外延层的表面反应机理进行了研究 ,通过 TPD、RHEED等实验观察了 Si( 1 0 0 )表面 Si H4 的饱和吸附、热脱附过程 ,得出 Si H4 的分解应该是每个 Si H4 分子的 4个 H原子全部都吸附到了 Si表面 ,Si H4 的吸附率正比于表面空位的 4次方 ,并分析了 Ge H4 的表面吸附机制 .在此基础上建立了 UHV/CVD生长Si1- x Gex/Si的表面反应动力学模型 ,利用模型对实验结果进行了模拟 。 展开更多
关键词 UHV/CVD 外延生长 锗化硅 表面反应动力学
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基于应变Si/SiGe的CMOS电特性模拟研究 被引量:1
19
作者 舒斌 张鹤鸣 +1 位作者 任冬玲 王伟 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2007年第5期397-401,共5页
提出了一种应变Si/SiGe异质结CMOS结构,采用张应变Si作n-MOSFET沟道,压应变SiGe作p-MOSFET沟道,n-MOSFET与p-MOSFET采用垂直层叠结构,二者共用一个多晶SiGe栅电极。分析了该结构的电学特性与器件的几何结构参数和材料物理参数的关系,而... 提出了一种应变Si/SiGe异质结CMOS结构,采用张应变Si作n-MOSFET沟道,压应变SiGe作p-MOSFET沟道,n-MOSFET与p-MOSFET采用垂直层叠结构,二者共用一个多晶SiGe栅电极。分析了该结构的电学特性与器件的几何结构参数和材料物理参数的关系,而且还给出了这种器件结构作为反相器的一个应用,模拟了其传输特性。结果表明所设计的垂直层叠共栅结构应变Si/SiGe HCMOS结构合理、器件性能提高。 展开更多
关键词 异质结互补金属氧化物半导体场效应晶体管 应变SI 应变SiGe 垂直层叠
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SiGe/Si异质结构的x射线双晶衍射 被引量:1
20
作者 邹德恕 徐晨 +8 位作者 罗辑 魏欢 董欣 周静 杜金玉 高国 陈建新 沈光地 王玉田 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2000年第1期36-38,共3页
通过x射线双晶衍射图形讨论了SiGe/SiHBT的电学特性与晶格结构的关系
关键词 X射线 双晶衍射 外延生长 锗化硅 异质结构
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