-
题名基于微指令覆盖的最小指令集测试算法
被引量：2
- 1
-
-
作者
张盛兵
高德远
樊晓桠
-
机构
西北工业大学计算机科学与工程系
-
出处
《计算机学报》
EI
CSCD
北大核心
2000年第10期1083-1087,共5页
-
基金
"九五"预研项目!(8.1.2 .8)
航空基金项目!(97F5 3 0 5 6 )
-
文摘
着重讨论了如何利用微处理器中的自测试设计来缩短功能测试序列的长度 .首先 ,依据指令的表示模型 ,将指令测试分成微指令序列和微指令执行两个测试层次 ,提出了一个基于微指令覆盖的最小指令集测试算法 ,只需检测指令集的一个子集就能达到指令测试的目的 .然后 ,通过定义指令的测试代价和测试效率 ,提出了一个可以有效地选择最小测试指令集的方法 .最后 ,将算法应用于 NRS40 0 0微处理器的功能测试 ,仅为传统的全指令集测试序列的 37.7% .
-
关键词
微处理器
功能测试
微指令
最小指令集测试算法
-
Keywords
microprocessor, functional testing, microinstruction, minimum coverage
-
分类号
TP332.06
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
-
题名微处理器浮点运算功能的测试方法研究
被引量：3
- 2
-
-
作者
曲英杰
夏宏
王沁
-
机构
北京科技大学集成电路中心
北京科技大学计算机系
-
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2001年第7期42-43,46,共3页
-
基金
教育部优秀青年教师基金资助
-
文摘
该文给出了一种微处理器浮点运算功能的测试方法，该方法的测试工作量少、测试时间短，而同时又具有较高的测试覆盖率。工程实践表明，该方法确实是一种可行的、有效的功能测试方法。
-
关键词
微处理器
功能测试
浮点运算
测试覆盖率
CPU
测试
-
Keywords
： microprocessor，functional testing method，Floating－point arithmetic，test coverage rate
-
分类号
TP332.06
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
-
题名可扩展式微处理器总剂量效应在线测试系统研制
被引量：4
- 3
-
-
作者
陈法国
于伟跃
梁润成
郑智睿
郭荣
-
机构
中国辐射防护研究院
核药研发转化及精准防护山西省重点实验室
-
出处
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
2022年第11期60-67,共8页
-
基金
中核集团青年英才计划项目(No.CNNC20010701)
抗辐照应用技术创新中心项目(No.KFZC2020020302)资助。
-
文摘
针对功能丰富、大规模集成微处理器总剂量效应的测试需要,研制了一种可扩展式的在线测试系统。测试系统由主控制电路、可扩展信号采集电路、被测样品接口、上位机及配套软件组成,提供了功耗电流、片内存储、通信、时钟、模数/数模转换、直接存储访问等多种参数测量或功能校验方法。利用测试系统对16个特征尺寸40 nm的微处理器开展了^(60)Co源辐照实验,所有样品在吸收剂量达到(377.44±20.34)Gy(Si)后出现了数字通信中断、功耗电流突然下降、模数/数模输出异常等现象。综合所有12项测量或校验结果,推断该微处理器的总剂量失效模式很可能是部分内核指令无法执行而导致的功能失效,同时也说明在线原位测试系统能够为总剂量失效模式分析提供更多、更直接的数据信息。
-
关键词
总剂量效应
在线测试
微处理器
参数退化
功能失效
-
Keywords
Total ionizing dose effect
On-line testing
microprocessor
Parametric degradation
functional failure
-
分类号
TL99
[核科学技术—核技术及应用]
-
-
题名MCS-51系列单片机功能测试方法研究
- 4
-
-
作者
汪保友
严晓浪
-
机构
杭州电子工业学院微电子CAD所
-
出处
《计算机应用与软件》
CSCD
1994年第4期56-64,F003,共10页
-
文摘
本文介绍了对MCS-51系列单片机进行测试所采用的理论和算法。我们对单片机的测试分为两个阶段。第一阶段称为初测阶段,采用从大开始法。在这一阶段测试出故障的芯片就被淘汰了,不再进行严格的测试。第二阶段称为详测阶段,这一阶段采用结构与功能兼测法,试图把故障定位到寄存器一级。这一阶段,首先按单片机的总体结构框图进行模块划分,再根据系统图理论,对每一模块建立其故障模型,结合从小开始法和最小指令覆盖法给出测试算法。
-
关键词
微处理机
功能
测试
故障
-
Keywords
Single-chip microcomputer, test generation, fault diagnosis, computer aided test, functional test, microprocessor test.
-
分类号
TP368.106
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
-
题名微处理器测试系统设计
被引量：1
- 5
-
-
作者
关国梁
李曦
王恒才
赵振西
-
机构
中国科学技术大学计算机科学技术系
-
出处
《小型微型计算机系统》
CSCD
北大核心
2003年第8期1555-1558,共4页
-
基金
国家自然科学基金 ( 60 2 73 0 42 )资助
安徽省自然科学基金 ( 0 3 0 42 10 1)资助
-
文摘
为了保证微处理器芯片设计的正确性 ,需要进行大量的仿真和测试 ,因此需要一个微处理器测试系统 ,以实现微处理芯片功能的测试和调试 .本文分析了微处理器测试系统的功能。
-
关键词
微处理器功能测试
测试系统
软硬件协同设计
-
Keywords
microprocessor function test
test system
hardware/software codesign
-
分类号
TP302
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
-
题名微处理器系统功能测试
被引量：3
- 6
-
-
作者
张峰
王家礼
方葛丰
-
机构
西安电子科技大学机电工程学院
中国电子科技集团公司第
-
出处
《现代电子技术》
2005年第10期108-110,共3页
-
基金
电子测试技术国家重点实验室资助项目
-
文摘
针对微处理器系统测试问题,提出了一种全新的功能测试方法。详细介绍了该方法的硬件组成和测试生成。该方法以结构故障模型为基础,将数字电路故障分为3大类6种故障,分别为固定型故障、开路型故障和短路型故障3种,其中固定型故障又可分为固定0和固定1两种,开路故障分为开路为0、开路为1以及开路为Z三种。为了验证该方法的有效性,本文针对一块以MC6 80 0为微处理器的电路板进行了测试程序开发。实验结果表明,故障覆盖率取得了满意的结果。
-
关键词
微处理器系统
功能测试
故障覆盖率
结构故障模型
-
Keywords
microprocessor systems
functional test
fault coverage
constructional fault model
-
分类号
TP301.6
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
-
题名基于规范化描述的微处理器功能测试
- 7
-
-
作者
龚茂康
宋琦
-
机构
扬州大学工学院电子科学与工程系
扬州大学工学院计算机科学与工程系
-
出处
《扬州大学学报（自然科学版）》
CAS
CSCD
2000年第1期75-78,共4页
-
文摘
基于规范化描述 ,提出了对微处理器进行功能测试的一种方法 ,给出了实现和结论 .
-
关键词
微处理机
功能测试
微处理器
规范化描述
-
Keywords
microprocessor
controller
function
test
-
分类号
TP368.1
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
-
