摘要
该文给出了一种微处理器浮点运算功能的测试方法，该方法的测试工作量少、测试时间短，而同时又具有较高的测试覆盖率。工程实践表明，该方法确实是一种可行的、有效的功能测试方法。
： A functional testing method for floating－point arithmetic is proposed in this paper，it spends little testing work and time，but it has high test coverage rate relatively．Practice of engineering proves that this method is practicable and effective．
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2001年第7期42-43,46,共3页
Computer Engineering and Applications
基金
教育部优秀青年教师基金资助
关键词
微处理器
功能测试
浮点运算
测试覆盖率
CPU
测试
： Microprocessor，Functional testing method，Floating－point arithmetic，Test coverage rate
