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MOCVD生长InGaAs/InP体材料研究 被引量:1
1
作者 陈龙海 刘宝林 +5 位作者 陈松岩 陈朝 黄美纯 王本忠 赵方海 刘式墉 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1997年第3期262-267,共6页
首先给出在InP衬底上利用MOCVD法生长InP、InGaAs的生长条件,而后分别给出了InP/InP的生长特性,InGaAs/InP的组份控制和生长特性及生长温度对InGaAs特性的影响。
关键词 mocvd 化合物半导体 外延生长 Ⅲ-Ⅴ族
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LP—MOCVD研制InGaAs/InP应变量子阱LD 被引量:1
2
作者 刘宝林 杨树人 +4 位作者 陈伯军 王本忠 安海岩 秦福文 刘式墉 《光子学报》 EI CAS CSCD 1996年第5期434-438,共5页
本文指出在LP—MOCVD生长过程中,采用量子阱有源区和上限制层不同的生长温度以及生长非掺杂过渡层等技术能有效地控制InGaAs/InP量子阱激光器的p—n结结位,给出了采用DEZn和H_2S做掺杂源在InP材料中p... 本文指出在LP—MOCVD生长过程中,采用量子阱有源区和上限制层不同的生长温度以及生长非掺杂过渡层等技术能有效地控制InGaAs/InP量子阱激光器的p—n结结位,给出了采用DEZn和H_2S做掺杂源在InP材料中p型和n型杂质溶度和p-n结控制的条件,并研制出有源区阱层InGaAs与InP存在0.5%压缩应变量子阱激光器,这一结构LD实现室温脉冲激射,得到峰值功率为106mW以上,阈值电流密度为2.6kA/cm2。 展开更多
关键词 mocvd 量子阱 激光器 ingaas
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失配异质结构InGaAs/InP的MOCVD生长
3
作者 周勇 赵志强 +2 位作者 周勋 刘万清 莫才平 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2012年第6期817-821,共5页
基于延展波长(截止波长2.2μm)InGaAs-PIN光电探测器进行了失配异质结构InxGa1-xAs(x=0.72)/InP的MOCVD外延生长研究。采用宽带隙组分梯度渐变的InAlAs作为缓冲层和顶层,通过生长优化,获得了满足器件要求的外延材料。
关键词 ingaas 失配异质结构 mocvd 梯度渐变InAlAs缓冲层
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低压MOCVD外延生长InGaAsP/InP应变量子阱材料与器件应用
4
作者 马骁宇 王树堂 +5 位作者 熊飞克 郭良 王仲明 曾靖 王丽明 陈良惠 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1996年第5期396-400,共5页
本文报道用低压有机金属化合物化学气相淀积(LP-MOCVD)外延生长InGaAsP/InP应变量子阶材料,材料参数与外延条件的关系,量子阱器件的结构设计及其器件应用.用所生长的材料研制出宽接触阈值电流密度小于400A... 本文报道用低压有机金属化合物化学气相淀积(LP-MOCVD)外延生长InGaAsP/InP应变量子阶材料,材料参数与外延条件的关系,量子阱器件的结构设计及其器件应用.用所生长的材料研制出宽接触阈值电流密度小于400A/cm2(腔长400μm),DC-PBH结构阈值7~12mA的1.3μm量子阱激光器和宽接触阈值电流密度小于600A/cm2(腔长400μm),DC-PBH结构阈值9~15mA的1.55μm量子阶激光器以及高功率1.3μm量子阱发光二极管和InGaAsPIN光电探测器. 展开更多
关键词 mocvd 外延生长 ingaasP inp 应变量子阱材料
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1.0μm gate-length InP-based InGaAs high electron mobility transistors by mental organic chemical vapor deposition 被引量:1
5
作者 高成 李海鸥 +1 位作者 黄姣英 刁胜龙 《Journal of Central South University》 SCIE EI CAS 2012年第12期3444-3448,共5页
InGaAs high electron mobility transistors (HEMTs) on InP substrate with very good device performance have been grown by mental organic chemical vapor deposition (MOCVD). Room temperature Hall mobilities of the 2-D... InGaAs high electron mobility transistors (HEMTs) on InP substrate with very good device performance have been grown by mental organic chemical vapor deposition (MOCVD). Room temperature Hall mobilities of the 2-DEG are measured to be over 8 700 cm^2/V-s with sheet carrier densities larger than 4.6× 10^12 cm^ 2. Transistors with 1.0 μm gate length exhibits transconductance up to 842 mS/ram. Excellent depletion-mode operation, with a threshold voltage of-0.3 V and IDss of 673 mA/mm, is realized. The non-alloyed ohmic contact special resistance is as low as 1.66×10^-8 Ω/cm^2, which is so far the lowest ohmic contact special resistance. The unity current gain cut off frequency (fT) and the maximum oscillation frequency (fmax) are 42.7 and 61.3 GHz, respectively. These results are very encouraging toward manufacturing InP-based HEMT by MOCVD. 展开更多
关键词 metamorphic device mental organic chemical vapor deposition high electron mobility transistors inp substrate ingaas
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InGaAs/InP材料的MOCVD生长研究 被引量:4
6
作者 刘英斌 林琳 +2 位作者 陈宏泰 赵润 郑晓光 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第2期113-115,120,共4页
研究了InGaAs/InP材料的MOCVD生长技术和材料的性能特征。InP衬底的晶向偏角能够明显影响外延生长模型以及外延层的表面形貌,用原子力显微镜(AFM)观察到了外延层表面原子台阶的聚集现象(step-bunching现象),通过晶体表面的原子台阶密度... 研究了InGaAs/InP材料的MOCVD生长技术和材料的性能特征。InP衬底的晶向偏角能够明显影响外延生长模型以及外延层的表面形貌,用原子力显微镜(AFM)观察到了外延层表面原子台阶的聚集现象(step-bunching现象),通过晶体表面的原子台阶密度和二维生长模型解释了台阶聚集现象的形成。对外延材料进行化学腐蚀,通过双晶X射线衍射(DCXRD)分析发现异质结界面存在应力,用异质结界面岛状InAs富集解释了应力的产生。通过严格控制InGaAs材料的晶格匹配,并优化MOCVD外延生长工艺,制备出厚层InGaAs外延材料,获得了低于1×1015cm-3的背景载流子浓度和良好的晶体质量。 展开更多
关键词 ingaas 单原子层 台阶聚集 界面 金属有机物化学气相沉积
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LP-MOCVD生长InGaAs/InP应变量子阱的研究 被引量:3
7
作者 刘宝林 杨树人 +2 位作者 陈佰军 王本忠 刘式墉 《光子学报》 EI CAS CSCD 1994年第4期313-318,共6页
本文研究了LP-MOCVD对不同x值的In1-xGaxAs/InP生长条件,并且生长了压缩应变为0.5%三个不同阱宽的InGaAs/InP量子阱结构,利用77KPL光谱分析了能级同阱宽的关系,实现最窄阱宽为4.4nm... 本文研究了LP-MOCVD对不同x值的In1-xGaxAs/InP生长条件,并且生长了压缩应变为0.5%三个不同阱宽的InGaAs/InP量子阱结构,利用77KPL光谱分析了能级同阱宽的关系,实现最窄阱宽为4.4nm,最小全半高峰宽为17.0mev。 展开更多
关键词 应变 量子阱 化学汽相沉积 砷铟镓
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LP-MOCVD生长伸张应变InGaAs/InP多量子阱的研究
8
作者 刘宝林 杨树人 +1 位作者 陈佰军 刘式墉 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1995年第3期239-243,共5页
首先从理论上研究了在应变情况下量子阱中能级的计算,然后利用LP-MOCVD研究了InGaAs/InP组份的控制及生长条件,最后生长伸张应变为0.5%的四个量子阱InGaAs/InP结构材料,利用PL光谱测量得最小阶宽... 首先从理论上研究了在应变情况下量子阱中能级的计算,然后利用LP-MOCVD研究了InGaAs/InP组份的控制及生长条件,最后生长伸张应变为0.5%的四个量子阱InGaAs/InP结构材料,利用PL光谱测量得最小阶宽为1.8nm。 展开更多
关键词 伸张应变 量子阱 半导体 生长
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MOCVD自催化法在Si(100)衬底上生长InP/InGaAs核壳结构纳米线 被引量:1
9
作者 张登巍 缪国庆 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2012年第3期294-298,共5页
采用自催化法,利用金属有机化学气相沉积技术,在Si(100)衬底上成功制备了InP/InGaAs核壳结构纳米线。通过扫描电子显微镜观察纳米线形貌,在核壳结构纳米线的顶端催化剂转化成了颗粒状晶体。利用X射线衍射和透射电子显微镜研究了InP纳米... 采用自催化法,利用金属有机化学气相沉积技术,在Si(100)衬底上成功制备了InP/InGaAs核壳结构纳米线。通过扫描电子显微镜观察纳米线形貌,在核壳结构纳米线的顶端催化剂转化成了颗粒状晶体。利用X射线衍射和透射电子显微镜研究了InP纳米线上生长InGaAs外壳的过程,并应用X射线能量色散能谱仪对纳米线顶端进行了轴向和径向的线扫描,得到了纳米线上元素组分分布。催化剂的转化发生在制备InGaAs壳之前的升温过程中,且形成的晶体中含有合金成分。InGaAs壳的组分调整可以通过改变生长过程中生长源气体的流量来实现。 展开更多
关键词 自催化法 金属有机化学气相沉积 inp/ingaas核壳结构 纳米线
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低压MOCVD生长的InGaAs/InP量子阱的光致发光谱线线宽及量子尺寸效应的测量分析
10
作者 陈德勇 朱龙德 +4 位作者 李晶 熊飞克 徐俊英 万寿科 梁骏吾 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第6期345-352,共8页
用低压MOCVD方法生长了InGaAs/InP单量子阱及多量子阱结构。用低温光致发光方法研究了量子阱样品因量子尺寸效应引起的激子能量移动以及激子谱线线宽同量子阱阱宽的关系,7A阱宽的激子能量移动达370meV。选取Q_c=△E_c/△E_g=0.4,采用修... 用低压MOCVD方法生长了InGaAs/InP单量子阱及多量子阱结构。用低温光致发光方法研究了量子阱样品因量子尺寸效应引起的激子能量移动以及激子谱线线宽同量子阱阱宽的关系,7A阱宽的激子能量移动达370meV。选取Q_c=△E_c/△E_g=0.4,采用修正后的Kronig-Penny模型,考虑能带的非抛物线性,拟合了激子能量移动和阱宽的关系曲线。用有效晶体近似方法(VCA)分析了激子尺寸范围内界面不平整度以及合金组分无序对激子谱线线宽的影响。以界面不平整度参量δ_1和δ_2,合金组分元序参量r_c为拟合参数,拟合了激子线宽对阱宽的关系曲线。取δ_1=2.93A,δ_2=100A,r_c=3ML,理论拟合值与实验值符合较好。 展开更多
关键词 ingaas/inp 量子阱 光致发光法
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大应变InGaAs/GaAs/AlGaAs微带超晶格中波红外QWIP的MOCVD生长 被引量:3
11
作者 周勇 孙迎波 +2 位作者 周勋 刘万清 杨晓波 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2013年第2期221-225,共5页
基于中波红外(峰值响应波长4.5μm)量子阱红外探测器QWIP进行了大应变In0.34Ga0.66As/GaAs/Al0.35Ga0.65As微带超晶格结构的MOCVD外延生长研究。通过对生长温度、生长速率、Ⅴ/Ⅲ比以及界面生长中断时间等生长参数的系统优化,获得了高... 基于中波红外(峰值响应波长4.5μm)量子阱红外探测器QWIP进行了大应变In0.34Ga0.66As/GaAs/Al0.35Ga0.65As微带超晶格结构的MOCVD外延生长研究。通过对生长温度、生长速率、Ⅴ/Ⅲ比以及界面生长中断时间等生长参数的系统优化,获得了高质量的外延材料。 展开更多
关键词 ingaas GaAs 大应变 微带超晶格结构 量子阱红外探测器 mocvd
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MOCVD生长InP/GaInAsP DBR结构及相关材料特性 被引量:2
12
作者 蒋红 金亿鑫 +2 位作者 缪国庆 宋航 元光 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2003年第6期632-636,共5页
采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)法InP衬底上成功地制备了GaxIn1-xAsyP1-y/InP交替生长的分布布喇格反射镜(DBR)结构以及与之相关的四元合金GaxIn1-xAsyP1-y和InP外延层。利用X射线衍射、扫描电子显微镜(SEM)、低温光致发光(PL)光谱等... 采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)法InP衬底上成功地制备了GaxIn1-xAsyP1-y/InP交替生长的分布布喇格反射镜(DBR)结构以及与之相关的四元合金GaxIn1-xAsyP1-y和InP外延层。利用X射线衍射、扫描电子显微镜(SEM)、低温光致发光(PL)光谱等测量手段对材料的物理特性进行了表征。结果表明,在InP衬底上生长的InP外延层和四元合金GaxIn1-xAsyP1-y外延层77K光致发光(PL)谱线半峰全宽(FWHM)分别为9.3meV和32meV,说明形成DBRs结构的交替层均具有良好的光学质量。X射线衍射测量结果表明,四元合金GaxIn1-xAsyP1-y外延层与InP衬底之间的相对晶格失配仅为1×10-3。GaxIn1-xAsyP1-y/InP交替生长的DBR结构每层膜的光学厚度约为λ/4n(λ=1.55/μm)。根据多层膜增反原理计算得出当膜的周期数为23时,反射率可达90%。 展开更多
关键词 金属有机化学气相沉积 mocvd 半导体材料 磷化铟 磷砷铟镓 布喇格反射镜 X射线衍射 扫描电子显微镜 低温光致发光光谱 反射率 周期数
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LP-MOCVD法制备高质量InP薄膜 被引量:1
13
作者 陈佰军 杨树人 +2 位作者 刘宝林 王本忠 刘式墉 《吉林大学自然科学学报》 CAS CSCD 1993年第2期59-62,共4页
本文报导以国产三甲基铟(TMIn)和进口的磷烷(PH_3)为源,采用低压金属有机化合物化学气相沉积(LP-MOCVD)方法,在InP衬底上生长高质量InP的工艺条件以及外延层的电学特性和光学特性.
关键词 LP-mocvd 薄膜 磷化铟
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MOCVD-Ga_xIn_(1-x)As_yP_(1-y)/InPDBR结构的晶格振动 被引量:2
14
作者 蒋红 宋航 缪国庆 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2006年第6期967-970,共4页
利用微区Raman散射技术研究了MOCVD-GaxIn1-xAsyP1-y/InPDBRs结构的晶格振动。在InP衬底上生长的与InP晶格匹配的四元合金Ga0.4In0.6As0.85P0.15中包含三种主要的振动模式,分别归属于类InAs、类GaAs和类GaInP。随着Ga0.4In0.6As0.85P0.1... 利用微区Raman散射技术研究了MOCVD-GaxIn1-xAsyP1-y/InPDBRs结构的晶格振动。在InP衬底上生长的与InP晶格匹配的四元合金Ga0.4In0.6As0.85P0.15中包含三种主要的振动模式,分别归属于类InAs、类GaAs和类GaInP。随着Ga0.4In0.6As0.85P0.15与InP交替生长构成的DBRs结构周期数增加,Raman散射谱中三种振动模式的谱线线型发生明显变化,类InAs振动强度不变,谱线窄化,峰值位置向低频方向移动,类GaAs和类GaInP振动强度逐渐减弱。同时类InAs与类GaAs振动强度比增大。Raman散射研究中声子的限制效应表明多层结构生长过程中界面存在非完整晶态。 展开更多
关键词 mocvd-GaxIn1-xAsyP1-y/inp DBR 分布布喇格反射镜结构 RAMAN散射 晶格振动
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InP衬底上LP-MOCVD生长InAs自组装量子点 被引量:1
15
作者 王本忠 刘式墉 +3 位作者 赵方海 孙洪波 彭宇恒 李正廷 《吉林大学自然科学学报》 CAS CSCD 1997年第2期70-72,共3页
报道利用低压金属有机化学气相沉积(LP-MOCVD)技术在(001)InP衬底上生长InAs自组装量子点的结果,用光致发光技术观察到较强的室温光荧光谱,其峰值波长约为1603um,分布在1300um^1700um范围内。
关键词 砷化铟 自组装量子点 mocvd 磷化铟 衬底
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InP基光电探测器材料的MOCVD锌扩散
16
作者 张宇 于浩 +5 位作者 郝文嘉 车相辉 尹顺正 齐利芳 赵润 陈宏泰 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2017年第4期300-304,共5页
锌(Zn)扩散是制作InP基光电探测器(PD)的重要工艺过程。分析了锌扩散的机制,利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备对InP基PD及雪崩光电探测器(APD)材料进行了锌扩散,由于MOCVD设备具有精确的温度控制系统,所以该扩散工艺具有简单、均匀... 锌(Zn)扩散是制作InP基光电探测器(PD)的重要工艺过程。分析了锌扩散的机制,利用金属有机化学气相沉积(MOCVD)设备对InP基PD及雪崩光电探测器(APD)材料进行了锌扩散,由于MOCVD设备具有精确的温度控制系统,所以该扩散工艺具有简单、均匀性好、重复性好的优点。对于扩散后的样品,采用电化学C-V方法和扫描电子显微镜(SEM)等测试分析手段,研究了退火、扩散温度、扩散源体积流量和反应室压力等主要工艺参数对InP材料扩散速率和载流子浓度的影响,并将该锌扩散工艺应用于InP基光电探测器和雪崩光电探测器的器件制作中,得到了优异的器件性能结果。 展开更多
关键词 锌扩散 金属有机化学气相沉积(mocvd) inp 光电探测器 扩散速率
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MOCVD生长的InP外延层的输运及发光特性
17
作者 张晓波 杜国同 《吉林大学自然科学学报》 CAS CSCD 1995年第3期53-56,共4页
使用MOCVD生长技术,在n型及半绝缘衬底上生长了InP外延层,通过对迁移率和低温光致发光,光反射谱的分析,得出了样品纯度与有关生长条件的关系。比较两种不同衬底上外延层的光荧光谱,发现杂质s在InP外延层中的扩散是不... 使用MOCVD生长技术,在n型及半绝缘衬底上生长了InP外延层,通过对迁移率和低温光致发光,光反射谱的分析,得出了样品纯度与有关生长条件的关系。比较两种不同衬底上外延层的光荧光谱,发现杂质s在InP外延层中的扩散是不容忽视的。 展开更多
关键词 mocvd生长技术 外延层 发光特性 磷化铟
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生长InGaAs材料的MOCVD技术 被引量:2
18
作者 祝进田 胡礼中 刘式墉 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 1993年第4期367-370,共4页
报道了利用LP-MOCVD技术,通过Ⅴ/Ⅲ比,总载气流量和生长温度等生长条件的研究,在InP衬底上长出了制作器件所要求的InGaAs材料,用转靶X射线衍射仪和光致发光手段对生长的材料进行了测试分析。
关键词 mocvd ingaas 光致发光 半导体材料
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MOCVD生长InGaAs/InGaAsP多量子阱光泵微碟激光器 被引量:2
19
作者 吴根柱 张子莹 +1 位作者 任大翠 张兴德 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第8期1057-1062,共6页
用 MOCVD方法生长了 In Ga As/ In Ga As P多量子阱微碟激光器外延片 ,用光刻、干法刻蚀和湿法刻蚀等现代化的微加工技术制备出直径 9.5μm的 In Ga As/ In Ga As P微碟激光器 ,并详细介绍了整个制备工艺过程 .在液氮温度下用氩离子激... 用 MOCVD方法生长了 In Ga As/ In Ga As P多量子阱微碟激光器外延片 ,用光刻、干法刻蚀和湿法刻蚀等现代化的微加工技术制备出直径 9.5μm的 In Ga As/ In Ga As P微碟激光器 ,并详细介绍了整个制备工艺过程 .在液氮温度下用氩离子激光器泵浦方式实现了低阈值光泵激射 ,测出单个微碟激光器的阈值光功率为 15 0μW,激射波长约为 1.6μm,品质因数 Q=80 0 ,激射光谱线宽为 2 nm,同时指出微碟激光器激射线宽比 F- 展开更多
关键词 微碟激光器 多量子阱光泵 mocvd生长 ingaas/ingaasP
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LP-MOCVD生长温度对InGaAs性能的影响 被引量:3
20
作者 刘宝林 杨树人 +2 位作者 陈佰军 王本忠 刘式墉 《发光学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第4期387-390,共4页
众所周知,InGaAs在InP和GaAs二个系列材料中具有最大的载流子迁移率和最大的饱和速率,InGaAs/GaAs应变量子阱可以把GaAs的发射波长从0.83μm延伸到1.1μm,而InGaAs/InP量子阱激光器又可以实现1.1~1.8μm内任意波长发射,并且,InGaAs/In... 众所周知,InGaAs在InP和GaAs二个系列材料中具有最大的载流子迁移率和最大的饱和速率,InGaAs/GaAs应变量子阱可以把GaAs的发射波长从0.83μm延伸到1.1μm,而InGaAs/InP量子阱激光器又可以实现1.1~1.8μm内任意波长发射,并且,InGaAs/InP探测器的响应波长范围为0.93μm~1.65μm,因此,它不论对高速电子器件如HBT和HEMT,还是光电子器件如激光器(LD)和探测器(PIN和APD)都具有极重要的意义。虽然利用液相外延巳生长出高质量的InGaAs/InP材料,但是, 展开更多
关键词 化学汽相沉积 砷钼镓 温度
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