|
1
|
吉时利4200-SCS半导体特征分析系统升级 |
|
《通用机械》
|
2008 |
1
|
|
|
2
|
吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能 |
|
《电子测试》
|
2008 |
1
|
|
|
3
|
吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能 |
|
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2008 |
0 |
|
|
4
|
吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEIV7．1升级版扩展了C—V、I—V和脉冲式I—V特征分析功能 |
|
《电子测量技术》
|
2008 |
0 |
|
|
5
|
吉时利集成最新C—V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C—V／I—V／脉冲测试 |
|
《国外电子测量技术》
|
2007 |
0 |
|
|
6
|
吉时利推出4200-SCS升级版 |
|
《电子测量技术》
|
2009 |
0 |
|
|
7
|
吉时利集成最新C-V模块及软件，4200-SCS系统实现更快速、简单和经济的C-V/I-V/脉冲测试 |
|
《通用机械》
|
2008 |
0 |
|
|
8
|
4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案 |
|
《世界电子元器件》
|
2005 |
0 |
|
|
9
|
吉时利4200-SCS升级版支持太阳能电池测试、和九槽机架结构 |
|
《电子质量》
|
2009 |
0 |
|
|
10
|
用低噪声4200-SCS半导体特性分析系统进行超低电流测试 |
Keithley Inc
|
《电子质量》
|
2003 |
0 |
|
|
11
|
吉时利全面升级4200-SCS |
朴立平
|
《中国计量》
|
2009 |
0 |
|
|
12
|
4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能 |
|
《今日电子》
|
2007 |
0 |
|
|
13
|
吉时利推出4200-SCS型半导体以及KTEI5.0软件 |
|
《电子与电脑》
|
2004 |
0 |
|
|
14
|
吉时利结合4200-SCS与KTEI 5．0软件 |
|
《电子测试》
|
2004 |
0 |
|
|
15
|
吉时利仪器公司推出C-V测量性能更佳的4200-CVU |
|
《电信科学》
北大核心
|
2007 |
0 |
|
|
16
|
吉时利4200－SCS半导体特征分析系统KTEI V7．1升级版扩展了C—V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能 |
|
《国外电子测量技术》
|
2008 |
0 |
|
|
17
|
4200-CVU：C-V测量功能模块 |
|
《世界电子元器件》
|
2007 |
0 |
|
|
18
|
吉时利针对先进半导体器件测试发布新版功能增强型脉冲与脉冲I-V测试解决方案 |
|
《电子与电脑》
|
2007 |
1
|
|
|
19
|
业界动态 |
|
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2007 |
0 |
|
|
20
|
吉时利仪器公司全新推出半导体特性分析系统 |
|
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
|
2000 |
0 |
|
