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吉时利4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版扩展了C-V、I-V和脉冲式I-V特征分析功能被引量：1

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摘要新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Kejthley）仪器公司（NYSE代码：KEI），日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7．1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。

出处《电子测试》 2008年第9期91-91,共1页 Electronic Test

关键词 4200-SCS 功率半导体器件吉时利特征系统升级版脉冲式测试环境

分类号 F416.6 [经济管理—产业经济]

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电子测试

2008年第9期

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