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4200-SCS：脉冲式半导体器件特性测量方案

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摘要吉时利仪器在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High-k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究。

出处《世界电子元器件》 2005年第9期83-83,共1页 Global Electronics China

关键词半导体特性分析系统 4200-SCS 脉冲式测量方案器件特性测量功能信号发生 200型存储芯片敏感器件

分类号 TN305 [电子电信—物理电子学] TN307 [电子电信—物理电子学]

引文网络
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世界电子元器件

2005年第9期

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