基于IEEE 1838和IEEE 1149.4标准的叠层芯片连接性测试结构设计

1

作者 黄新 周雨宇 《计算机测量与控制》 2026年第2期1-9,共9页

为了解决叠层芯片在复杂生产环节中很难进行较为完备的在线测试与传统探针测试方法TSV测试损耗高且难以在绑定后阶段进行测试的问题,结合IEEE 1838标准的叠层芯片边界扫描测试结构和IEEE 1149.4标准的混合信号边界扫描测试结构,设计了... 为了解决叠层芯片在复杂生产环节中很难进行较为完备的在线测试与传统探针测试方法TSV测试损耗高且难以在绑定后阶段进行测试的问题,结合IEEE 1838标准的叠层芯片边界扫描测试结构和IEEE 1149.4标准的混合信号边界扫描测试结构,设计了基于边界扫描技术的叠层芯片连接性测试结构,其主要包含内部测试总线、测试总线接口电路和能实现将TSV与芯片内核隔离的模拟开关矩阵组成的模拟边界扫描通道,数字/模拟双通道可配置的边界扫描单元和一系列适配叠层芯片边界扫描接口结构;并通过FPGA仿真验证表明测试结构在叠层芯片连接性测试方面尤其是对TSV的电学特性测量具有良好的可控性与可观性,为传统TSV电学参数测量方法提供了一种有效的片上测试途径。 展开更多

关键词 IEEE1838 IEEE1149.4 TSV 边界扫描测试 可测试性设计

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基于IEEE1149.4的混合信号边界扫描测试控制器设计 被引量：10

2

作者 张西多 易晓山 胡政 《计算机测量与控制》 CSCD 2006年第5期570-572,共3页

简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提... 简要介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其特点,并根据该标准定义的测试结构对混合信号电路的测试方法进行研究,设计出符合IEEE1149.4标准的边界扫描控制器及其验证电路,实验结果表明该测试控制器能实现对混合信号电路板的测试,大大提高了混合信号电路板的可观性和可控性。 展开更多

关键词 边界扫描 可测试性 IEEE1149.4 混合信号

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基于IEEE 1149.4标准的混合电路测试系统设计 被引量：3

3

作者 陈圣俭 张胜满 +1 位作者 周燕 陈健 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2009年第9期1673-1675,共3页

随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方... 随着电子技术的迅速发展,电路系统的复杂度急剧增加,目前约有60%的芯片同时包含了数字和模拟两种信号,电路测试也因此面临着更大的挑战。为解决数模混合信号系统的测试难题,在IEEE 1149.4标准的基础上,设计了一个数模混合电路测试系统方案,系统能够实现混合电路的互连测试与参数测试,通过74BCT8373与STA400芯片对系统的测试功能进行了验证。实验结果表明,该系统测试简单,测量准确。该测试系统的研究设计为下一步进行混合电子系统机内测试设计奠定了基础。 展开更多

关键词 IEEE 1149.4 混合电路 机内测试

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基于IEEE1149.4标准TAP控制器的设计 被引量：9

4

作者 雷加 苏波 《仪器仪表学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2007年第S1期298-299,318,共3页

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计已成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在基于IEEE1149.4标准的混合信号电路的可测... 随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。目前,可测性设计已成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在基于IEEE1149.4标准的混合信号电路的可测性设计中,测试访问口(test access port,TAP)控制器设计的地位比较突出,是非常重要的一环。本文从标准要求出发,对TAP控制采用硬件描述语言加以实现并进行了仿真验证,从仿真结果看该设计是正确可行的。 展开更多

关键词 可测性设计 IEEE1149.4标准 TAP控制器

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IEEE1149.4测试系统的研究与设计 被引量：5

5

作者 李正光 雷加 《计算机工程与应用》 CSCD 北大核心 2004年第6期128-130,134,共4页

分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、... 分析了符合IEEE1149.4标准IC的工作机制及其对测试系统的功能需求,设计了符合IEEE1149.4标准的测试系统,重点论述了IEEE1149.4测试系统的设计方案。测试系统的仿真和运行表明,该系统具有对系统级、PCB级和芯片级电路进行简单互连测试、差分测试和参数测试等功能,设计方案正确,结构简单。 展开更多

关键词 IEEE1149.4 边界扫描 测试系统

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基于IEEE1149.4的差分测试方法的研究与应用 被引量：1

6

作者 雷加 尹爱晖 《计算机测量与控制》 CSCD 2005年第8期766-767,778,共3页

IEEE1149.4标准(DOT4)为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法,对于数模混合差分电路的互联测试,一直是数模混合电路中互联测试的重点之一,介绍了一种基于此标准的差分互联电路的测试方法以及差分模拟边界扫描单元的应用,对... IEEE1149.4标准(DOT4)为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法,对于数模混合差分电路的互联测试,一直是数模混合电路中互联测试的重点之一,介绍了一种基于此标准的差分互联电路的测试方法以及差分模拟边界扫描单元的应用,对混合差分电路实现了简单互联和扩展互联的边界扫描测试,从而提高了差分电路互联测试的能力。 展开更多

关键词 边界扫描 IEEE1149.4 差分测试 数模混合电路

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基于IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的测试技术研究 被引量：6

7

作者 苏波 《国外电子测量技术》 2012年第4期34-37,共4页

随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对... 随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描可测性结构进行了探索,具有重要的理论价值和实际意义。 展开更多

关键词 可测性设计 边界扫描 IEEE1149.4

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基于IEEE 1149.4标准的验证电路设计 被引量：2

8

作者 刘华林 雷加 颜学龙 《电子工程师》 2004年第9期10-13,共4页

介绍了基于IEEE 114 9.4混合信号测试总线标准的验证电路设计 ,利用复杂可编程逻辑器件 (CPLD)、模拟开关ADG2 0 2A和电压比较器LM311等器件 ,实现了该标准所定义的测试结构。它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性 ,对... 介绍了基于IEEE 114 9.4混合信号测试总线标准的验证电路设计 ,利用复杂可编程逻辑器件 (CPLD)、模拟开关ADG2 0 2A和电压比较器LM311等器件 ,实现了该标准所定义的测试结构。它的设计与可观性实验及可控性实验验证了标准的有效性 ,对于今后推广标准在混合信号芯片中的应用将起到积极的作用。 展开更多

关键词 IEEE 1149.4标准 边界扫描 验证电路 电路测试

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基于IEEE1149.4标准的模拟电路故障诊断研究

9

作者 颜学龙 韩俊俊 《微型机与应用》 2015年第13期87-90,共4页

随着电子系统的集成度越来越高,内部结构越来越复杂,传统的物理探针已经无法满足测试要求。简要介绍了IEEE1149.4标准和支持向量机理论基础,提出了一种基于IEEE1149.4标准的模拟电路故障诊断方案。该方法利用SVM实现故障检测,结合电路... 随着电子系统的集成度越来越高,内部结构越来越复杂,传统的物理探针已经无法满足测试要求。简要介绍了IEEE1149.4标准和支持向量机理论基础,提出了一种基于IEEE1149.4标准的模拟电路故障诊断方案。该方法利用SVM实现故障检测,结合电路分块方法和IEEE1149.4标准中的开关矩阵对电路分块,实现故障定位。最后对此方法的可行性和准确性进行了仿真验证,结果表明此方法在准确判断电路是否存在故障的同时,也能实现故障定位,达到误判率为零的结果 。 展开更多

关键词 IEEE1149.4 支持向量机 故障检测 故障定位

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IEEE1149.4模拟和混合信号测试总线标准

10

作者 姜岩峰 张东 王鑫 《电子测试》 2011年第7期16-19,74,共5页

模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信... 模拟和混合信号边界扫描标准(IEEE1149.4)是针对电路板级外部分立元件的测试而发展起来的,该标准与IEEE1149.1兼容,另外,在此基础上,IEEE1149.4又增加了两根线,用来控制模拟信号。目前1149.4的标准,不但应用在传统的电路板上,在混合信号集成电路甚至包含混合信号的SoC系统芯片上,都有应用。本文主要描述该测试标准的基本架构,提出系统测量方法及应用实例,希望对于该标准在国内的应用有一定推广意义。 展开更多

关键词 混合信号 IEEE1149.4标准 边界扫描

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IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究

11

作者 刘林生 张东 陈建新 《电子测试》 2012年第5期1-6,共6页

本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模... 本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。 展开更多

关键词 IEEE 1149.4标准 混合信号 边界扫描 电路测试

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P1149.4混合信号测试、总线综述

12

作者 林传骝 《国外电子测量技术》 1998年第5期6-8,共3页

所推荐的IEEE标准设法改进混合信号设计和测试质量的可控性与可观察性。评论员将会很快估算出其投票结果。

关键词 1149.4标准 混合信号测试 总线 测试

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利用IEEE 1149.1和1149.4进行模拟测试

13

作者 燕辰 《电子测试》 1999年第8期23-24,44,共3页

所面临的挑战是发展一种从响应不可预测的混合信号器件的模拟部分获取数据的方法

关键词 混合IC 模拟测试 IEEE1149.1 IEEE1149.4

全文增补中

基于IEEE1149．4标准的K节点故障诊断方法研究 被引量：4

14

作者 雷加 陈寿宏 苏波 《计算机测量与控制》 CSCD 2006年第9期1133-1134,共2页

IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法;在IEEE1149．4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上,结合K节点故障的可测性原则和测试节点选择方法,实现对常规的复杂无源模拟电路网络进行符合IEEE1149．4标准的... IEEE1149．4标准为解决数模混合电路的边界扫描测试提供了有效的方法;在IEEE1149．4标准所提出的模拟互连测试结构的基础上,结合K节点故障的可测性原则和测试节点选择方法,实现对常规的复杂无源模拟电路网络进行符合IEEE1149．4标准的可测性设计进行故障诊断,并通过实例验证该方法的有效性。 展开更多

关键词 IEEE1149.4 互连测试 数模混合电路 故障诊断

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基于网络的混合信号边界扫描测试系统的设计与实现 被引量：3

15

作者 陈寿宏 颜学龙 黄新 《计算机测量与控制》 CSCD 北大核心 2012年第5期1168-1169,1182,共3页

将边界扫描技术与网络技术结合,解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题,可实现远程测试与故障诊断;设计了一种基于网络的混合信号边界扫描测试软硬件系统,硬件部分设计了边界扫描测试控制器、网络接口电路... 将边界扫描技术与网络技术结合,解决高密度电路系统特别是混合信号电路及复杂测试环境带来的测试问题,可实现远程测试与故障诊断;设计了一种基于网络的混合信号边界扫描测试软硬件系统,硬件部分设计了边界扫描测试控制器、网络接口电路并实现了硬件底层驱动程序,软件部分实现了边界扫描测试系统程序和网络接口功能函数;对被测电路进行测试验证,测试结果表明系统可完成混合电路的远程边界扫描测试,具有较好的应用前景。 展开更多

关键词 IEEE1149.4 边界扫描测试 混合信号 测试系统

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边界扫描测试协议剖析——从1149.1到1149.6 被引量：9

16

作者 陈新武 余本海 《计算机与数字工程》 2005年第1期25-29,共5页

本文对边界扫描协议IEEEStd 114 9.1- 1990到IEEEStd 114 9.6 - 2 0 0 3的多个协议进行了介绍和剖析 ,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色 ,总结了边界扫描技术的最新进展 ,并对以后边... 本文对边界扫描协议IEEEStd 114 9.1- 1990到IEEEStd 114 9.6 - 2 0 0 3的多个协议进行了介绍和剖析 ,着重讨论了各个协议能够解决的问题以及解决问题的方法 ,各个协议的体系结构和指令特色 ,总结了边界扫描技术的最新进展 ,并对以后边界扫描的发展方向给出了预测。 展开更多

关键词 边界扫描 IEEE STD 1149.1 IEEE STD 1149.4 IEEE STD 1149.5 IEEE STD 1149.6

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SoC中混合信号测试与可测性设计研究 被引量：1

17

作者 魏淑华 侯明金 《计算机研究与发展》 EI CSCD 北大核心 2010年第S1期190-194,共5页

SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方... SoC技术的迅速发展,对SoC中混合信号测试技术研究提出了迫切需求.分析了混合信号电路测试的各种问题,总结了常见的混合信号电路的故障诊断方法、传统的模拟和混合信号电路的测试方法.着重讨论混合信号电路的可测性设计方法,说明各种方法的基本原理,并对混合信号测试技术的发展作了展望. 展开更多

关键词 混合信号 故障诊断 DFT BIST 边界扫描 IEEE1149.4

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混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现 被引量：4

18

作者 杨兵 姜岩峰 张东 《电子测试》 2010年第1期48-54,共7页

IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试... IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。 展开更多

关键词 IEEE1149.4 ABM TBIC 边界扫描单元

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从边界扫描技术协议讨论其发展与应用 被引量：2

19

作者 肖小清 师谦 +1 位作者 恩云飞 周继承 《电子质量》 2007年第6期59-61,共3页

边界扫描测试技术作为当前电子测试技术的热点,其应用与发展是令人瞩目的。本文通过对边界扫描技术一系列协议的简单介绍和剖析,讨论了边界扫描技术各个阶段的应用与发展情况,并对边界扫描技术未来的发展给出了一些预测。

关键词 边界扫描 IEEE1149.1 IEEE1149.4 IEEE1149.5 IEEE1149.6 IEEE1532

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混合信号边界扫描测试控制系统的设计实现

20

作者 陈圣俭 陈健 +2 位作者 张胜满 郑伟东 房金龙 《火力与指挥控制》 CSCD 北大核心 2008年第S2期97-99,共3页

现代装备火控系统中混合信号电路越来越普及,为了实现对其快速故障诊断,以IEEE 1149.4标准为依据,设计实现了一个基于边界扫描技术的数模混合信号测试控制系统。仿真实验表明,该测试控制系统操作简便,测试准确,测试效果好,为装备电子系... 现代装备火控系统中混合信号电路越来越普及,为了实现对其快速故障诊断,以IEEE 1149.4标准为依据,设计实现了一个基于边界扫描技术的数模混合信号测试控制系统。仿真实验表明,该测试控制系统操作简便,测试准确,测试效果好,为装备电子系统机内测试应用奠定了基础。 展开更多

关键词 IEEE1149.4 边界扫描 混合信号电路

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