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题名一种新的微光像增强器综合测试系统
被引量：3
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作者
刘宇
马月琴
姜均炎
史继芳
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机构
西安应用光学研究
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出处
《应用光学》
CAS
CSCD
1997年第3期17-22,共6页
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文摘
描述一种具有单一光源的激光像增强器综合测量系统。系统可以测试微光像增强器光量子类的阴极光灵敏度、辐射灵敏度、亮度增益、等效背景照度、输出信噪比、亮度均匀性和几何类的分辨率、畸变、图像同轴性、中心放大率等指标。系统对各个指标测量的不确定度优于5％。
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关键词
像增强器
综合测试
色温转换
微光技术
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Keywords
image intensifier, comprehensive test, colour temperature transform
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分类号
TN223.06
[电子电信—物理电子学]
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题名微通道板电极表面的XPS分析
被引量：4
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作者
车晶
李晓峰
杨伟毅
常本康
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机构
南京理工大学电子工程与光电技术学院
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出处
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
1998年第4期298-301,共4页
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文摘
为探索微通道板的噪声来源，利用X射线光电子能谱对国内和国外MCP电极表面进行组分分析。实验发现，在国外MCP电极表面上只检测到Ni，Cr，C，O等原子谱峰，而在国内的MCP电极表面还检测到K，Na，Si等原子谱峰，且在国产未镀电极的MCP表面检测出K的原子谱峰。分析认为，MCP体内的K有向表面偏析的现象；MCP电极表面上的杂质，如K，Na，Si等是MCP噪声来源之一；国产MCP表面的杂质不仅与MCP镀膜材料纯度、系统真空度有关，而且还与电极膜层的致密性有关。
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关键词
微通道板
电极表面
X射线
光电子能谱
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Keywords
Microchannel plate, Electrode surface, X-ray photoelectron spectroscopy
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分类号
TN223.06
[电子电信—物理电子学]
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题名提高二代微光管荧光屏表面质量的探讨
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作者
田丽云
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机构
昆明物理研究所
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出处
《红外技术》
CSCD
1989年第3期42-45,共4页
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文摘
二代微光管内的放电现象是一个十分复杂的问题,为了解决后近贴放电问题(屏与微道板),要求屏的表面在450倍显微镜下观察没有大的“凸起点”。在20/30TZ101(仿XX1380)管和二代薄片管的研制中,通过大量的实验,总结了一套提高二代管荧光屏表面质量的理论和方法。采用超声分选和改变电介质浓度的新方法解决了屏表面的“大凸起点”问题,提高了沉淀屏表面的质量。在改变涂(?)工艺的同时,建立了一套标准化配方的新工艺规范。工艺稳定,重复性好,使屏的良品率达到80%以上。由此,基本上解决了后近贴放电问题。
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关键词
微光管
荧光屏
质量
表面质量
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分类号
TN223.06
[电子电信—物理电子学]
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题名环境温度试验中微光产品工作状态的探讨
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作者
陈映苹
朱远波
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出处
《云光技术》
1995年第6期24-26,共3页
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关键词
微光夜视仪器
工作状态
环境温度试验
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分类号
TN223.06
[电子电信—物理电子学]
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