摘要
二代微光管内的放电现象是一个十分复杂的问题,为了解决后近贴放电问题(屏与微道板),要求屏的表面在450倍显微镜下观察没有大的“凸起点”。在20/30TZ101(仿XX1380)管和二代薄片管的研制中,通过大量的实验,总结了一套提高二代管荧光屏表面质量的理论和方法。采用超声分选和改变电介质浓度的新方法解决了屏表面的“大凸起点”问题,提高了沉淀屏表面的质量。在改变涂(?)工艺的同时,建立了一套标准化配方的新工艺规范。工艺稳定,重复性好,使屏的良品率达到80%以上。由此,基本上解决了后近贴放电问题。
出处
《红外技术》
CSCD
1989年第3期42-45,共4页
Infrared Technology
