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功率VDMOS场效应晶体管的可靠性（3）

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作者 韩卓人
出处 《半导体杂志》 1993年第4期26-35,共10页
关键词 场效应晶体管 可靠性 VDMOS
分类号 TN386.06 [电子电信—物理电子学]
  • 相关文献
半导体杂志
1993年 第4期

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