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现场X射线荧光技术在大比例尺地质填图中的应用研究 被引量:3

Study and application of XRF technique in-suit in large scale geological mapping
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摘要 探讨了采用X射线荧光现场测量技术开展大比例尺地质填图的理论依据、测试技术、数据处理方法、地质界线划分方法等问题,在此基础上,建立了一套简便易行的现场X射线荧光测量填图工作方法。在两个浮土覆盖矿区开展的1∶5000~1∶10000地质填图的初步应用,取得了良好的效果。 In this article, the authors study the problems, such as theory basis, test technique, data (processing) method, methods of delimiting geological confines, encountered in the application of XRF (technique) in large scale geological mapping. According to these, a set of convenience and simple XRF (geological) mapping techniques are set up. The XRF technique has been first used in two areas covered by soil for 1∶5 000~1∶10 000 geological mapping and proved efficient.
出处 《成都理工大学学报(自然科学版)》 CAS CSCD 北大核心 2004年第3期311-315,共5页 Journal of Chengdu University of Technology: Science & Technology Edition
关键词 携带式X射线荧光仪 现场X射线荧光测量 地质界线 地质填图 portable XRF analyzer spot XRF measurement geological confines geological mapping
  • 相关文献

参考文献1

  • 1张家骅.放射性同位素X荧光分析[M].北京:原子能出版社,1984..

同被引文献56

引证文献3

二级引证文献24

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