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半导体激光器中电场分布特性的连续波电光检测 被引量:7

Measurements on Electric Field Distribution in Semiconductor Laser Using CWEOP Method
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摘要 利用连续波电光检测法首次成功地对AlGaAs/GaAs半导体激光器中的电场分布进行了测量.测量结果直接表征了器件注入电流扩展和载流子限制特性. 本文简要地描述了方法的原理和实验装置,给出了典型的测量结果并对其进行了讨论. The electric field distributions in AlGaAs/GaAs semiconductor lasers are successfully measured using Continuous Wave Electro-Optic Probing (CWEOP) method for the first time.The experimental results reflect directly the characteristic of carrier confinement and spread ofinjected currenc. This paper describes briefly the principle and the experimental setup ofthe CWEOP method, and gives the experimental results and discussion. The prospects of theCWEOP method are reviewed.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1992年第7期417-422,T001,共7页 半导体学报(英文版)
基金 国家自然科学基金 国家863计划资助
  • 相关文献

参考文献8

二级参考文献4

  • 1朱祖华,信息光电子学基础,1990年
  • 2Lo Y H,A P L,1987年,50卷,17期,1125页
  • 3朱祖华,A P L,1986年,49卷,8期,432页
  • 4朱祖华

共引文献2

同被引文献30

  • 1朱祖华,信息光电子学基础,1990年
  • 2黄王辉,1988年
  • 3Cheng S P,IEEE J QE,1988年,QE24卷,12期,2433页
  • 4朱祖华,Appl Phys Lett,1986年,49卷,8期,432页
  • 5丁纯,1991年
  • 6朱祖华,1991年
  • 7朱祖华,1990年
  • 8朱祖华,吉林大学自然科学学报,1990年,特刊,186页
  • 9朱祖华,信息光电子学基础,1990年
  • 10Lo Y H,Appl Phys Lett,1987年,50卷,1125页

引证文献7

二级引证文献2

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