期刊文献+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息

微波网络分析仪的校准 被引量：3

原文传递
导出
摘要 对微波网络分析仪和测试夹具的校准方法和校准过程经常出现的问题进行了介绍。从提高校准精度的角度,针对不同的测试端口和相应的校准标准,提出了选取校准方法和运算方法的准则,同时给出了解决这些问题和提高校准精度的具体建议,发现并通过实验验证直通标准得到的4个方程能够同时使用,并可以获得精确的结果。实验中,观察到对同一校准方法,采用不同的运算方法可能导致频率限制问题的出现。
作者 祝宁华 王幼林 陈振宇
机构地区 中国科学院半导体研究所集成光电子学国家重点实验室
出处 《中国科学（E辑）》 CSCD 北大核心 2004年第3期329-336,共8页 Science in China(Series E)
基金 国家"973"计划(批准号:02000036601) 杰出青年基金(批准号:69825109) 国家"863"计划 香港城市大学战略研究资助(批准号:7001420) 香港研究资助委员会的CERG(批准号:9040804)资助项目
关键词 校准 微波网络分析仪 散射参数测量 测试夹具 运算方法 测试仪器
分类号 TN98 [电子电信—信息与通信工程]
  • 相关文献

参考文献34

  • 1Speciale R A. A generalization of the TSD network-analyzer calibration procedure, covering n-port scattering-parameter measurement, affected by leakage errors. IEEE Trans Microwave Theory Tech. 1977,25(12): 1100-1115.
  • 2Engen G F, Hoer C A. Thru-reflect-line: An improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer. IEEE Trans Microwave Theory Tech, 1979, 27(12): 987-993.
  • 3Hoer C A, Engen G F. On-line accuracy assessment for the dual six-port ANA: Extension to nonmating connectors. IEEE Trans Instrum Meas, 1987, 36(4):524-529.
  • 4Meys R P. A triple-through method for characterizing test fixtures. IEEE Trans Microwave Theory Tech,1988, 36(6): 1043-1046.
  • 5Williams D. De-embedding and unterminating microwave fixtures with nonlinear least squares. IEEE Trans Microwave Theory Tech, 1990, 38(6): 787-791.
  • 6Silvonen K J. Calibration of test fixtures using at least two standards. IEEE Trans Microwave Theory Tech,1991, 39(4): 624-630.
  • 7Eul H J, Schiek B. A generalized theory and new calibration procedures for network analyzer self-calibration. IEEE Trans Microwave Theory Tech, 1991, 39(4): 724N731.
  • 8Marks R B, A multiline method of network analyzer calibration. IEEE Trans Microwave Theory Tech, 1991,39(7): 1205-1215.
  • 9Silvonen K J. A general approach to network analyzer calibration. IEEE Trans Microwave Theory Tech,1992, 40(4): 754-759.
  • 10Steer M B, Goldberg S B, Rinne G, et al. Introducing the through-line deembedding procedure. IEEEMTT-S Int Microwave Symp Dig, 1992. 1455-1458.

同被引文献12

引证文献3

二级引证文献5

中国科学（E辑）
2004年 第3期

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部