试析新型IC智能测试仪的原理、结构及其使用方法被引量：3

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摘要 IC芯片商家及用户在使用IC芯片过程中需对IC芯片进行测试 ,以判断其好坏。开发通用集成电路测试仪是解决这一问题的一条有效途径。本文分析了江汉大学的一项科研成果“IC智能测试仪”的测试原理、系统结构及使用方法。

作者柯璇肖运红张绪宽

机构地区江汉大学物理与信息工程学院

出处《高等函授学报（自然科学版）》 2003年第4期43-45,共3页 Journal of Higher Correspondence Education(Natural Sciences)

关键词 IC智能测试仪原理结构使用方法 IC芯片集成电路测试仪单片机

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高等函授学报（自然科学版）

2003年第4期

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