实用性集成电路测试仪设计技术

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摘要本文介绍我所新近研制的一种微机控制的数字集成电路测试仪及其软硬件设计技术,重点叙述在计算机的应用。该仪器所采用的微机、监视器和打印机都是市购的廉价通用品。该仪器作为微机的外设,能在监视器的中文系统引导下测试24芯以下(包括24芯)的TTL和CMOS数字集成电路以及28芯存储器,并且能在不改动硬件设计条件下而扩展到40芯组件测试。商业性样机已经生产出来,并已提供用户试用。

作者高兆麒

机构地区南京船舶雷达研究所

出处《雷达与对抗》 1991年第1期28-32,共5页 Radar & ECM

关键词集成电路测试仪微机

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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雷达与对抗

1991年第1期

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